La release 8.2 del software KTEI (Keithley Test Environment Interactive) per il sistema di caratterizzazione dei semiconduttori Keithley 4200-SCS comprende ora nuove librerie di test per memorie non volatili (NVM) e progetti campione per numerose tecnologie di memoria emergenti.
Questa versione aggiornata supporta inoltre l’esecuzione di misure C-V (Capacità-Tensione) a frequenze molto basse, utili per la caratterizzazione di prodotti quali dispositivi elettronici polimerici, LED organici (OLED) e display basati su queste tecnologie emergenti.

Nuovi Prodotti