FocusonPCB - Vicenza, 15-16 maggio 2024
Torna a Vicenza il 15 e 16 maggio 2024 Focus on PCB, la terza edizione della fiera dedicata all'intera filiera dei circuiti stampati. Nata dalla volontà del Gruppo PCB Assodel…
Kesyight amplia ancor di più la sua già vasta offerta di strumentazione modulare introducendo nuovi modelli di cestelli porta schede adatti alle diverse versioni del bus PXIe, che arricchiscono la scelta a disposizione dei clienti in base alle esigenze di capacità e di rapporto prezzo/prestazioni richieste.
I tre nuovi modelli di chassis PXIe presentati da Keysight comprendono: un cestello Gen 3 a 10 slot ad alte prestazioni, un cestello Gen 1 a 5 slot economicamente molto conveniente e un cestello Gen 2 a 18 slot riprogettato rispetto a quello già esistente per offrire nuove funzionalità e un alimentatore più potente.
Leggi tutto: Cestelli modulari PXIe Gen 1, 2 e 3 di Keysight
Il sistema di collaudo automatico e la caratterizzazione di circuiti integrati analogici e misti EVA100 realizzato da Advantest si arricchisce di nuove opzioni e configurazioni dedicate alla attività di ricerca e sviluppo e caratterizzazione di sensori integrati con uscita digitale.
In particolare, le nuove soluzioni realizzate da Advantest semplificano la verifica di sensori integrati che comunicano tramite i protocolli SPI, SENT, PSI5, I2C, CAN, LIN e Jtag.
Advantest ha presentato il suo nuovo tester per semiconduttori T2000 AiR, un sistema di collaudo automatico compatto e raffreddato ad aria ottimizzato per il collaudo a basso costo adatto sia ai laboratori di ricerca e sviluppo, sia agli ambienti di produzione a basso volume di prodotti differenziati.
Il tester per semiconduttori T2000 AiR di Advantest offre un'estesa copertura per il collaudo dei diversi moduli e dispositivi System-in-Package (SiP). Grazie all'architettura modulare caratterizzata da estrema flessibilità, il tester permette la configurazione con sei moduli di misura raffreddati ad aria.
Leggi tutto: Sistema di collaudo T2000 AiR System per moduli e dispositivi SiP
Tektronix ha presentato il sistema di collaudo parametrico per semiconduttori di potenza totalmente automatico Keithley S540, che permette di effettuare test parametrici totalmente automatici sui wafer usando 48 pin.
Si tratta di uno strumento ottimizzato per effettuare prove fino a 3 kV su dispositivi di potenza e strutture realizzate con i materiali composti di ultima generazione, tra cui carburo di silicio (SiC) e nitruro di gallio (GaN), oltre che di effettuare le classiche misure ad alta tensione, basse tensione e di capacità su ogni tipo di materiale semiconduttore con un singolo contatto della sonda sul wafer.
Leggi tutto: Sistema di collaudo per semiconduttori di potenza Keithley S540
L'unità di alimentazione e misura (SMU) in formato modulare PXIe M9211A di Keysight è caratterizzata da una velocità particolarmente elevata, che facilita l'esecuzione di collaudi automatici anche complessi mantenendo una grande accuratezza e stabilità in presenza di carichi dinamici.
Il sistema di alimentazione della scheda M9111A può passare da una impostazione di uscita ad un'altra in meno di 1 ms misurando contestualmente correnti assorbite dell'ordine dei microampere.
Leggi tutto: Unità di alimentazione e misura PXIe Keysight M9211A
