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Sistema di collaudo automatico per semiconduttori Advantest T2000Advantest un veloce modulo per l'acquisizione di immagini utilizzabile per collaudare in modo economicamente vantaggioso i chip a semiconduttore con interfaccia D-PHY e M-PHY ad alta frequenza e bassa potenza.

Il nuovo modulo di acquisizione di immagini CMOS T2000 3Gbps è integrato all'interno del sistema di collaudo automatico T2000 ISS di Advantest, una piattaforma di test utilizzata per la verifica di un'ampia gamma di circuiti integrati SoC (System-on-Chip).

Grazie all’elevata velocità di acquisizione delle immagini fino a 3Gbps, il nuovo modulo di collaudo 3GICAP di Advantest consente di eseguire il test ad alto parallelismo dei sensori di immagine CMOS, che vengono impiegati in numerose applicazioni di elettronica di consumo, tra cui cellulari, fotocamere digitali, videocamere e sistemi di visione per auto.

"I sensori di immagine CMOS continuano a migliore le loro prestazioni in termini di risoluzione e riduzione dei consumi, pertanto la crescente quantità di prodotti elettronici che ne utilizzano la tecnologia esercita una continua pressione a contenere i costi di produzione,” ha spiegato Satoru Nagumo, vicepresidente senior di Advantest Corporation. “La nostra ultima generazione di tecnologie di acquisizione di immagini consente ai nostri clienti di ridurre il costo dei test, pur garantendo le alte performance richieste dei sensori di immagine avanzati.”

Il modulo di acquisizione di immagini CMOS T2000 3GICAP è in grado di collaudare simultaneamente fino a 64 dispositivi in parallelo, riducendo quindi significativamente i costi del collaudo. Oltre a migliorare le rese eseguendo il test ad alta velocità in produzione, il modulo può ridurre significativamente il tempo richiesto per il debug e la qualifica del primo silicio durante lo sviluppo di nuovi dispositivi.

Il nuovo modulo è pienamente compatibile con la piattaforma di test T2000 ISS di Advantest, che fa parte della serie T2000. La famiglia di sistemi di collaudo automatico T2000 viene utilizzata nelle linee di progettazione e produzione di semiconduttori più avanzate al mondo dai costruttori di dispositivi integrati, dalle aziende fabless e in outsourcing dalle fabbriche di assemblaggio e test di semiconduttori a livello mondiale.

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