Agilent Technologies ha introdotto una nuova opzione per la sua ben nota famiglia PNA di analizzatori di reti dedicata ai laboratori metrologici per misurare con la massima accuratezza oggi possibile i parametri S.

La stabilità e l'accuratezza delle misure sono le caratteristiche fondamentali di ogni strumento utilizzato nei laboratori metrologici. Senza dati certi sulla stabilità, infatti, i laboratori metrologici non potrebbero determinare l'impatto delle variazioni termiche sulle misure.

La nuova opzione Agilent per i suoi analizzatori di reti nasce proprio per caratterizzare al meglio la stabilità termica dei suoi strumenti, indipendentemente dall'influenza di cavi e adattatori complementari.

La nuova tecnica mette a disposizione 48 ore di dati di stabilizzazione per caratterizzare accuratamente il comportamento degli strumenti memorizzando al loro interno le variazioni dovute alla deriva termica, mediante i quali è possibile calcolare l'incertezza delle misure.

Inoltre, la nuova opzione ottimizza le prestazioni di base della famiglia di strumenti PNA in funzione delle specifiche esigenze dei laboratori metrologici. Ad esempio, tutti gli anelli sul panello frontale sono stati rimossi per migliorare la stabilità, l'adattamento tra sorgente e carico è stato ottimizzato ed è stato utilizzato un particolare hardware basato sui semiconduttori realizzati da Agilent stessa per migliorare la linearità del ricevitore.

Agilent sottolinea come il risultato finale dell'adozione di queste sofisticate tecnologie sia uno strumento che offre quanto di meglio sia possibile ottenere per la misura dei parametri S.

La famiglia di analizzatori di reti PNA di Agilent comprende i modelli delle serie PNA-L, PNA e PNA-X, che coprono una gamma di frequenza compresa da 300 kHz a 1,05 THz.

La nuova opzione per i laboratori metrologici è disponibili per tutti i modelli a due porte e a quattro porte degli analizzatori di reti PNA fino a 67 GHz.