FocusonPCB - Vicenza, 13-14 maggio 2026
"Focus on PCB – From Design to Assembly” torna a Vicenza il 13 e 14 maggio 2026 confermandosi come l’evento di riferimento in Europa per l’industria dei circuiti stampati e per…
Le unità di alimentazione e misura combinano una sorgente di tensione, una sorgente di corrente e funzionalità di misura in un unico strumento. Continua...
Conosci la differenza tra precisione e accuratezza?
Per scegliere il modello più adatto al proprio lavoro occorre non solo fare riferimento alle specifiche di base. Continua...
Siglent Technologies ha annunciato il lancio in Europa della serie di analizzatori di rete vettoriali SNA5000X-E, una nuova piattaforma di VNA entry-level progettata per rendere l'analisi accurata delle reti vettoriali più accessibile ai tecnici elettronici che operano in ambiti quali lo sviluppo RF embedded, la progettazione di elettronica industriale, la formazione e il collaudo in produzione.
La funzionalità RF è sempre più integrata nei sistemi embedded, nei moduli wireless, nelle piattaforme di sensori, nell'elettronica di controllo industriale e nei sottosistemi automobilistici. Di conseguenza, la capacità di misurazione affidabile dei parametri S sta diventando un requisito standard non solo nei laboratori RF specializzati, ma anche negli ambienti di sviluppo elettronico in generale.
Leggi tutto: Analizzatore di reti entry-level Siglent SNA5000X-E
Anritsu ha sviluppato il primo tester per fibre multicore MT9100A, che consente la valutazione della qualità di trasmissione delle fibre multicore a supporto delle comunicazioni ottiche ad alta capacità di nuova generazione.
Questa soluzione di test si basa sul metodo OTDR multicanale. Sincronizzando più riflettometri ottici nel dominio del tempo (OTDR), questo metodo misura sia le perdite di trasmissione che quelle di ritorno nelle fibre multicore, oltre a misurare e visualizzare la distribuzione dell'interferenza del segnale tra i nuclei (diafonia inter-core) lungo la lunghezza della fibra.
Teradyne ha sviluppato Photon 100, un sistema completo di collaudo automatico ottico-elettrico progettato appositamente per accelerare la produzione ad alto volume di circuiti integrati fotonici in silicio (SiPh, Silicon Photonics) e dispositivi elettroottici integrati CPO (Co‑Packaged Optics).
Integrando nello stesso sistema la strumentazione ottica ed elettrica della piattaforma UltraFLEXplus di Teradyne, Photon 100 consente di effettuare test automatizzati ad alta velocità in tutte le principali fasi di produzione, verificando wafer, optical engine e modulo co-packaged.
Leggi tutto: Tester Photon 100 per chip fotonici e dispositivi elettro-ottici CPO
L’oscilloscopio oggi non può più essere considerato un elemento neutro del sistema di misura. Il suo rumore di fondo è parte integrante della catena di acquisizione e può mascherare dettagli critici come jitter, ripple, crosstalk. Comprendere e gestire tale parametro è dunque essenziale.
Negli ultimi anni le specifiche di rumore degli oscilloscopi digitali (DSO) hanno assunto un ruolo sempre più centrale nella valutazione delle prestazioni di uno strumento. Questo interesse crescente non è casuale, ma è strettamente legato all’evoluzione dei sistemi elettronici moderni e dei contesti applicativi in cui essi operano.
Leggi tutto: Le specifiche di rumore negli oscilloscopi digitali
Keysight Technologies ha presentato tre nuove soluzioni per laboratori didattici dedicati ai semiconduttori, progettate per aiutare le università a preparare gli studenti a una carriera nel settore globale dei semiconduttori.
Le tre soluzioni – Progettazione e misurazione di base, Test parametrici e misurazione su wafer, e Misurazione di circuiti integrati fotonici – offrono agli studenti un’esperienza pratica nell’uso di strumenti elettronici e flussi di lavoro di livello professionale comunemente impiegati nella ricerca, nello sviluppo e nella produzione di semiconduttori.
Leggi tutto: Laboratori didattici per il test dei semiconduttori
