FocusonPCB - Vicenza, 13-14 maggio 2026
"Focus on PCB – From Design to Assembly” torna a Vicenza il 13 e 14 maggio 2026 confermandosi come l’evento di riferimento in Europa per l’industria dei circuiti stampati e per…
Una nuova piattaforma di VNA entry-level progettata per rendere l'analisi accurata delle reti vettoriali più accessibile. Continua...
Conosci la differenza tra precisione e accuratezza?
Per scegliere il modello più adatto al proprio lavoro occorre non solo fare riferimento alle specifiche di base. Continua...
WavePulser 40iX di Teledyne LeCroy è uno strumento che fa da ponte tra il dominio del tempo e quello della frequenza per la caratterizzazione delle interconnessioni.
Utilizza la tecnica della riflettometria nel dominio del tempo (TDR) e dell'analisi vettoriale delle reti (VNA) offrendo la possibilità di valutare l'integrità del segnale con un unico strumento in grado di fornire sia i parametri S che i profili di impedenza dalla continua fino a 40 GHz.
Leggi tutto: Caratterizzazione delle interconnessioni nel dominio del tempo e della frequenza
La valutazione della sicurezza fotobiologica delle sorgenti ottiche artificiali è un requisito sempre più stringente nella progettazione e qualificazione dei sistemi di illuminazione, in conformità alle norme IEC 62471 e IEC 14255.
L’analisi riguarda l’intero dominio spettrale UV–VIS–IR, con particolare attenzione agli effetti su retina, cristallino e tessuti cutanei derivanti dall’esposizione a radiazione ottica incoerente.
Leggi tutto: Valutazione della sicurezza fotobiologica delle sorgenti LED
Advantest ha annunciato la disponibilità di Pin Scale 5000B, una soluzione di test digitale avanzata per la sua piattaforma di collaudo dei semiconduttori V93000 EXA Scale, progettata per soddisfare i crescenti requisiti di test dei dispositivi avanzati per le applicazioni di intelligenza artificiale (AI) e di high-performance computing (HPC).
Le capacità e la complessità dei semiconduttori per AI e HPC stanno crescendo rapidamente, spinte da nodi di processo avanzati, integrazione eterogenea e architetture basate su chiplet. Tali dispositivi richiedono una copertura di test strutturale e funzionale significativamente più elevata, nonché l’elaborazione di volumi di dati di test in costante aumento.
Leggi tutto: Pin Scale 5000B amplia le capacità del tester per semiconduttori V93000 EXA Scale
Yokogawa ha annunciato il suo nuovo modulo di isolamento 720252 da 1 MS/s a 16 bit, dotato di un'ampia capacità di regolazione dell'offset DC e il modulo di misura della potenza 720301, che garantisce la precisione delle forme d'onda DC/AC.
Evoluzione del modello 701251 esistente, il nuovo modello 720252 copre un intervallo di regolazione dell'offset più ampio rispetto agli oscilloscopi digitali generici, consentendo la misurazione precisa anche delle più piccole variazioni di tensione e corrente DC provenienti da batterie o sensori.
Leggi tutto: Modulo di isolamento e misura per sistemi di potenza
Samtec ha annunciato il lancio del cavo assemblato stabilizzato in fase e ampiezza per sistemi di test BE71A Bulls Eye Ottimizzato per l'utilizzo fino a 71 GHz a supporto dei test SerDes PAM4 a 224 Gbps, questo nuovo prodotto combina il popolare design salvaspazio con montaggio a compressione Bulls Eye con i cavi a microonde ad alte prestazioni Nitrowave arancioni di Samtec.
Con l'aumentare delle frequenze, la corrispondenza di fase tra cavi di test assemblati diventa più importante. Questo perché la sincronizzazione precisa del segnale è fondamentale quando si valutano le prestazioni o si devono rilevano guasti tramite una misura.
Leggi tutto: Cavi assemblati per test su segnali PAM4 a 224 Gbps
