Agilent Technologies ha annunciato la funzionalità di analizzatore vettoriale di reti non lineari (NVNA) per il suo analizzatore di reti a microonde PNA-X per l’analisi a radiofrequenza delle reti non lineari da 10 MHz a 26,5 GHz.

Il software NVNA di Agilent richiede un hardware esterno minimo e trasforma efficacemente un PNA-X a 4 porte in un analizzatore di reti non lineari ad alte prestazioni.

 

Potendo caratterizzare i componenti non lineari e misurare i nuovi parametri scattering non lineari, chiamati parametri X, oltre a eseguire misure non lineari nel dominio dell’inviluppo dell’impulso, questo software è ideale per i tecnici che si occupano di ricerca e sviluppo di componenti RF attivi.

 

Per caratterizzare accuratamente il comportamento non lineare dei dispositivi attivi, come amplificatori ad elevata potenza e duplicatori di frequenza, sono necessari strumenti appositamente progettati per eseguire misure non lineari.

Grazie alla comprensione del comportamento non lineare di un dispositivo e alla possibilità di controllarlo e ridurlo al minimo, i progettisti possono creare soluzioni lineari ad elevata potenza. Gli strumenti e i modelli attualmente disponibili per l’esecuzione di tale attività possono essere difficili da usare e spesso non forniscono le informazioni necessarie.

La nuova funzionalità NVNA di Agilent offre un potente e rapido approccio alla risoluzione di questi problemi, consentendo la caratterizzazione del comportamento non lineare di un dispositivo con il massimo livello di precisione, velocità e facilità d’uso del settore. La funzionalità NVNA si basa su un comune analizzatore di reti a microonde PNA-X e quindi offre tutta la potenza, la flessibilità e le funzionalità di misura del modello PNA-X per le misure lineari. Inoltre, si può facilmente passare alla modalità NVNA per misure non lineari.

 

Una delle caratteristiche fondamentali della funzionalità NVNA consiste nella possibilità di misurare l’ampiezza calibrata e la fase relativa delle frequenze prodotto dello spettro misurato da 10 MHz a 26,5 GHz.

La caratterizzazione dei componenti è resa possibile tramite la misurazione e visualizzazione sia dell’ampiezza sia della fase dell’intero spettro (fondamentale, armoniche e frequenze prodotto) con il noto e potente analizzatore di reti PNA-X.

Pertanto, è possibile comprendere meglio e controllare in modo più deterministico il comportamento non lineare dei dispositivi in prova (DUT). I dati possono essere visualizzati nel dominio del tempo, della frequenza, della potenza o di domini definiti dall’utente, fornendo maggiori dettagli sul comportamento non lineare dei componenti.

 

Misura dei parametri X

 

Un’altra fondamentale caratteristica della nuova funzionalità NVNA è la possibilità di misurare i parametri scattering non lineari chiamati parametri X.

 

Questa funzionalità estende i parametri scattering lineari (parametri S) nella zona di funzionamento non lineare e consente di ottenere un preciso ritratto sia dei dispositivi non lineari, sia del comportamento dei dispositivi non lineari in cascata, sfruttando i dati ricavati dalle misure.

 

I parametri X possono essere utilizzati nel software di simulazione Advanced Design System di Agilent per simulare con precisione e progettare componenti, moduli e sistemi non lineari.

Ne risulta un elevatissimo livello di dettaglio nella comprensione del comportamento non lineare del dispositivo in prova, che rende la funzionalità NVNA particolarmente utile per i ricercatori che si occupano di nuove tecnologie RF e per i tecnici impegnati nella progettazione degli odierni dispositivi attivi ad alte prestazioni.