Advantest ha aggiunto alla sua famiglia di tester per circuiti integrati di memoria H5600 il nuovo modello H5620ES, estremamente versatile e progettato per il collaudo burn-in e core ad alta velocità delle memorie DDR4 e delle memorie DDR5 di prossima generazione, oltre che di dispositivi a bassa potenza e doppio data rate (LPDDR).

Si tratta di una macchina specificatamente progettata per migliora l’efficienza di collaudo negli ambienti di laboratorio prima del passaggio alla produzione in grande serie.

Riducendo il numero di accessori richiesti e il tempo necessario per effettuare test burn-in e core, il tester H5620ES permette di tagliare i costi di collaudo da sostenere per valutare i sofisticati dispositivi di memoria ampiamente utilizzati nelle applicazioni 5G.

Come l’unità di produzione H5620 introdotta precedentemente, il nuovo tester garantisce un’elevata produttività grazie al test in parallelo di memorie DDR4 e DDR5 contemporaneamente.

Il nuovo modello H5620ES può accogliere IC di memoria con frequenze di 100 MHz e data rate di 200 Mbps.

Il sistema è ottimizzato per la facilità d’uso nello sviluppo dei prodotti. Il suo design compatto fa risparmiare spazio e consente di spostarlo negli ambienti di laboratorio, mentre la sua architettura “open-top” rende agevoli le operazioni di prelievo e inserimento senza dover rimuovere la scheda di interfaccia del dispositivo (DIB).

Il tester H5620ES funziona con lo stesso sistema operativo FutureSuite dell’unità di produzione H5620, rendendo così possibili eseguire test con la stessa forma d’onda.

Consente anche di svolgere delle routine preventive al collaudo, come la verifica dei contatti, da eseguire sul sistema H5620ES prima del trasferimento al tester H5620, riducendo così i tempi dei cicli di produzione.

“Il nostro nuovo sistema H5620ES soddisfa tutte le esigenze di efficienza dei costi nello sviluppo e nella qualifica degli IC di memoria di nuovissima generazione, che registrano un’elevata domanda grazie al crescente mercato del 5G,” afferma Takeo Miura, vicepresidente del Memory ATE Business Group presso Advantest.