Tektronix ha presentato una nuova soluzione per il test di conformità dei trasmettitori PCI Express 5.0 e del segnale di clock di riferimento sviluppata in collaborazione con Anritsu.

Lo standard PCI Express si sta affermando sempre più come bus di riferimento per la trasmissione seriale ad alta velocità nel settore dei sistemi di elaborazione grazie al raddoppio dell'ampiezza di banda ogni tre anni, obiettivo questo superato dall'introduzione della specifica base 5.0, che prevede una velocità di trasferimento dati di 128 GB/s.

Questa evoluzione è destinata a proseguire, con il previsto rilascio nel corso dell'anno delle nuove specifiche PCI Express 6.0, che dovrebbero garantire un ulteriore raddoppio della velocità di trasferimento dati massima, pari 256 GB/s, sfruttando la modulazione di ampiezza a più levelli PAM4.

Il settore dei server e dei dispositivi di archiviazione sta rapidamente adottando PCI Express 5.0 per soddisfare i nuovi requisiti richiesti dall'adozione del protocollo 400G Ethernet, la fruizione di servizi di intelligenza artificiale e di modellazione nel cloud (che prevedono l’uso di co-processori), l'aumento della capacità di archiviazione e il sempre maggior utilizzo di sistemi di archiviazione basati su memorie NAND.

Un'evoluzione di questo tipo comporta l'insorgere di problematiche completamente nuove per le attività di misura e collaudo, tradizionalmente ripartite tra la validazione a livello di silicio (come richiesto dalle specifiche PCIe Base) e test di conformità dell’interfaccia (PCIe CEM) previste da PCI-SIG.

La soluzione messa a punto da Tektronix è già predisposta per collaudare prodotti non ancora disponibili sul mercato, in modo da consentire ai progettisti di dotarsi in tempo utile delle apparecchiature di test necessarie sia per il nuovo standard PCI Express di quinta generazione (Gen5), sia per la versione successiva (Gen6) di prossima introduzione.

“Il bus PCIe, con l'introduzione dello standard Gen5, diventa sempre più veloce e complesso", spiega David Bouse, PCI EXPRESS systems engineer di Tektronix, "pertanto è di cruciale importanza, prima di affrontare le prove di conformità per la certificazione, poter disporre in laboratiorio di una soluzione completa di strumenti di misura e relativo software. La nostra soluzione per PCI Express 5.0 semplifica sensibilmente il processo di debug e collaudo assicurando la conformità dei progetti alle specifiche del nuovo standard con un elevato grado di affidabilità”.

La soluzione per la verifica di trasmettitori PCI Express 5.0 e del clock di riferimento di Tektronix è stata sviluppata e continua ad essere armonizzata con le specifiche Base, CEM e test della release 5.0

Queste, in sintesi, le principali caratteristiche:

• Soluzione per la verifica (base e CEM) automatizzata dei trasmettitori PCI Express 5.0 (32 GT/s) con gli oscilloscopi in real time di Tektronix della serie DPO700000SX con ampiezza di banda di 50 GHz o superiore e l'analizzatore di qualità dei segnali MP1900A Serie R series (BERT) di Anritsu
• Nuovo software di automazione del ricevitore di Tektronix con algoritmi altamente efficienti per la calibrazione del diagramma a occhio a 32 GT/s e 16 GT/s.
• Supporto di tool all’avanguardia tra cui SigTest Phoenix con elaborazione a elevato grado di parallelismo per ridurre il tempo complessivo di collaudo
• Supporto di molteplici formati fisici (M.2 & U.2) e architetture di temporizzazione (CC, SRNS, SRIS)
• Piena conformità con l’evoluzione delle specifiche base di PCI Express con implementazione di misure del jitter dell’ampiezza dell’impulso e del jitter non correlato a 32 GT/s per ottimizzare il range della conversione A/D e minimizzare il rumore
• Completa integrazione con i tool “PCIe Clock Jitter” di Silicon Labs e DPOJET di Tektronix per affrontare in maniera efficace le sempre più complesse problematiche legate alle misure dell’integrità dei segnali e del jitter del clock di riferimento a 100 MHz
• Disponibilità dei primi adattatori di prova (fixture) secondo le specifiche CEM di PCIe 5.0 utilizzate per il collaudo di pre-conformità.