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Analizzatore di spettro ottico Yokogawa AQ6375EI nuovi analizzatori di spettro ottico AQ6375E e AQ6376E presentati da Yokogawa coprono un'ampia gamma di lunghezze d'onda combinando lo spettro infrarosso a media e corta lunghezza d'onda con un'estrema precisione ottica per soddisfare le nuove esigenze nello sviluppo e produzione di prodotti ottici.

Gli analizzatori Yokogawa AQ6375E e AQ6376E sono strumenti basati su reticolo di grating e coprono lo spettro ottico SWIR (Short-Wavelength InfraRed) oltre 2 μm e MWIR (Mid-Wavelength InfraRed) oltre 3 μm.

I nuovi strumenti sono offerti in quattro versioni. Il modello standard AQ6375E copre la gamma di lunghezze d'onda di 1200-2400 nm, il modello AQ6375E Extended Wavelength copre la gamma di lunghezze d'onda di 1000-2500 nm, il modello AQ6375E Limited copre la gamma di lunghezze d'onda di 1200-2400 nm (con risoluzione di lunghezza d'onda ridotta) e il modello AQ6376E copre la gamma di lunghezze d'onda di 1500-3400 nm.

L'ampia scelta delle lunghezze d'onda disponibili offre agli sviluppatori una maggiore flessibilità per utilizzare gli analizzatori di spettro ottico Yokogawa in un'ampia gamma di applicazioni.

Ad esempio, è possibile effettuare anche misure in campo ambientale e il rilevamento dei gas, dove il modello AQ637xE può essere utilizzato per la misurazione degli spettri di assorbimento del gas e la caratterizzazione delle sorgenti luminose utilizzate nella spettroscopia di assorbimento laser.

Altri campi applicativi di utilizzo dei nuovi analizzatori di spettro ottico sono l'assistenza medica, la biotecnologia e le applicazioni laser industriali, oltre allo sviluppo e la caratterizzazione di laser e altre sorgenti luminose a banda larga, come le sorgenti luminose super continuum, dispositivi ottici passivi e fibre ottiche.

Analisi dello spettro otticoIl modello AQ637xE incorpora numerose funzioni che contribuiscono a garantire la massima precisione. L'ingresso ottico dallo spazio libero permette di utilizzare fibra mono modale per le regioni SWIR e MWIR e MMF (fino a 400 µm) sullo stesso strumento. La piccola variazione della perdita di inserzione al connettore di ingresso aumenta la ripetibilità della misura, mentre la mancanza di contatto fisico con le fibre di collegamento assicura che si evitino danni.

È inclusa anche una sorgente di luce di calibrazione integrata per l'allineamento ottico e la calibrazione della lunghezza d'onda. Ciò mantiene elevate prestazioni ottiche compensando le deviazioni nell'asse ottico causate da vibrazioni e urti e la deviazione della lunghezza d'onda causata dalle variazioni della temperatura ambiente.

Il modello AQ637xE utilizza anche una funzione di spurgo dell'aria per compensare un'altra causa di possibile errore. Nella regione SWIR e MWIR ci sono lunghezze d'onda in cui la luce mostra forti assorbimenti dovuti alla presenza di vapore acqueo e anidride carbonica, che possono entrambi disturbare la misurazione spettrale.
Fornendo continuamente gas di spurgo puro come azoto al monocromatore tramite connettori dedicati sul pannello posteriore, l'analizzatore AQ637xE può ridurre l'influenza dell'assorbimento di luce sulla misurazione.

La luce rifratta di ordine elevato viene inoltre compensata tramite un filtro di taglio integrato in tutte le versioni ad eccezione del modello AQ6375E-01. Ciò è necessario perché il monocromatore genera luce rifratta di ordine elevato che ha lunghezze d'onda uguali ai multipli interi della lunghezza d'onda di ingresso. I filtri integrati riducono questa luce rifratta di ordine superiore riducendo al minimo la sua influenza sull'accuratezza della misurazione.

Per analizzare i risultati lo strumento AQ637xE dispone di funzioni di analisi integrate per caratterizzare lo spettro ottico di una varietà di sistemi e dispositivi ottici. Le funzioni di analisi includono: DFB-LD, FP-LD, LED, Larghezza spettrale (picco/notch), SMSR, Potenza ottica, WDM (OSNR), EDFA (guadagno e NF), Filtro (picco/basso) e filtro WDM (picco/basso).

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