Sensor+Test 2024 - Norimberga, 11 - 13 giugno 2024
Si svolgerà in presenza dal 11 al 13 giugno 2024 alla fiera di Norimberga la principale manifestazione europea dedicata ai sensori e alla tecniche di misura. organizzata da AMA,…
National Instruments ha presentato due nuovi alimentatori programmabili ad alta densità di potenza per sistemi di misura e collaudo modulari in formato PXI.
I due nuovi moduli NI PXIe-4112 e NI PXIe-4113 permettono di gestire maggiori assorbimenti all'interno di uno stesso rack contribuendo pertanto a minimizzare lo spazio e il numero di slot occupati nei cestelli PXI.
PinPoint Alpha è un economico sistema di collaudo sviluppato per Diagnosys destinato alla ricerca guasti su schede a circuito stampato.
PinPoint Alpha fa parte degli strumenti diagnostici della famiglia PinPoint che sono stati progettati per facilitare il rilevamento di un guasto e la rapida identificazione della sua causa originaria a livello di componente.
Con il gateway LAN/GPIB/USB E5810B realizzato da Agilent Technologies è possibile collegarsi via LAN e telecomandare fino a 14 strumenti di misura con interfaccia GPIB (Ieee 488), 4 strumenti via USB e 1 strumento tramite l'interfaccia seriale RS232.
La velocità massima supportata dal gateway verso l'interfaccia GPIB è di ben 1,2 MB/s, mentro sul lato della rete locale vengono supportate tutte le più moderne interfacce, come 1000BASE-T (1 Gb/s), 100BASE-TX e la classica 10BASE-T.
Keithley Instruments ha annunciato presentato la versione 5.0 del suo pacchetto software ACS (Automated Characterization Suite) che è ora supporta una nuova serie di funzioni specifiche per facilitare la caratterizzazione e il collaudo parametrico di semiconduttori di potenza.
La nuova release 5.0 di ACS può sfruttare le risorse di tutte le più recenti unità di alimentazione e misura (SMU) di Keithley, come i modelli ad alta corrente 2651A e ad alta tensione 2657A per consentire il collaudo automatizzato a livello di wafer di semiconduttori ad alta potenza, come MOSFET, IGBT, BJT diodi e così via.
Leggi tutto: Caratterizzazione wafer per semiconduttori di potenza
Agilent Technologies ha presentato un nuovo analizzatore da banco per effettuare prove e collaudi tramite la metodologia boundary scan.
L'analizzatore boundary scan Agilent x1149 è uno strumento destinato ai laboratori di sviluppo e validazione che desiderano verificare il comportamento di componenti e schede, oppure di programmare componenti già montati sulla scheda, quali CPLD e FPGA, sfruttando le catene di scansione inserite nei circuiti stampati e nei circuiti integrati usando le stesse tecniche adottabili anche nelle linee di produzione.
