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Strumenti di misura professionali SONEL

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Utilizzando il dispositivo interrogante di riferimento NFC, i segnali di polling possono essere generati con un adeguato generatore di segnali RF in grado di produrre forme d'onda arbitrarie, come può esserlo il generatore SMBV100A di R&S. Le sequenze di comando che stimolano il telefonino NFC in modalità passiva sono generate dall'apposito software per la generazione di sequenze di impulsi messo a disposizione dal produttore. I segnali di prova possono essere generati e modificati con facilità.

Figura 2: Configurazione per la misura su un telefono cellulare in modalità passiva (emulazione smart-card), per la verifica della modulazione di carico, FDT ecc., utilizzando un dispositivo interrogante di riferimento dell' NFC Forum, un oscilloscopio digitale e un generatore vettoriale di segnaliI produttori degli strumenti di misura mettono a disposizione dei file pronti all'uso per la generazione di forme d'onda specifiche, dettagliando anche le impostazioni adeguate della strumentazione. Per erogare sufficiente potenza al dispositivo in prova è necessario un amplificatore di potenza. La figura 2 illustra la disposizione degli strumenti per effettuare la misura su un telefono cellulare in modalità passiva.

Oltre alla disposizione degli strumenti, è utile mostrare anche i risultati di alcune misure tipiche. Le misure che seguono sono state effettuate su un telefonino dotato di funzionalità NFC con un oscilloscopio digitale RTO di R&S.

1. Misura delle caratteristiche della forma d’onda nella modalità di interrogazione

Figura 3: Esempio di misura delle caratteristiche della forma d’onda (tempo di salita) in modalità di interrogazione utilizzando un oscilloscopio digitale RTO di R&SLa figura 3 mostra una tipica misura sulla forma d’onda in modalità di interrogazione. Il tempo di salita è valutato in 575 ns, piazzando il cursore 1 al 5% e il cursore 2 al 90% della scala verticale.

 

 

2. Misura del ritardo di frame nella modalità listener

Figura 4: Esempio di misura FDT (Frame Delay Time) su un telefono NFC in modalità passiva (emulazione di scheda 14443 PICC). Il canale superiore mostra prima il segnale Select Request, poi un segnale di onda continua (CW) dovuto alla modulazione di carico spuria per via dell’attività del telefonino NFC, e infine la risposta del telefono NFCLa figura 4 mostra una misura temporale del ritardo di frame su un telefono NFC in modalità passiva di emulazione smart card, utilizzando la configurazione di prova riportata in figura 2. La traccia superiore mostra il segnale di Select Request (inviato da un generatore di forma d’onda arbitraria) e successivamente la risposta (modulazione del carico) del telefono NFC in modalità emulazione smart-card. La traccia inferiore mostra l’ingrandimento dell’intervallo temporale che spazia dall’ultimo bit del segnale di Select Request al primo bit della risposta. I cursori posizionati in questi punti misurano il tempo di ritardo di frame (che risulta qui essere di 86,51 µs). La variazione d’ampiezza dell’onda continua tra i cursori è dovuta ad una modulazione di carico parassita da parte del telefono NFC in modalità emulazione smart-card.

3. Misure di carico con l’oscilloscopio digitale

Figura 5: Esempio di misura di carico con un oscilloscopio digitale RTO R&SIn Figura 5 è mostrata una misura di carico effettuata con un oscilloscopio digitale RTO di R&S. La risposta al telefono NFC in modalità di emulazione smart-card viene valutata con due cursori per ottenere l’esatta differenza tra i valori massimo e minimo (in questo esempio sono 61,1 mV, evidenziati nel cerchio)

Alternativamente, le misure di carico possono essere effettuate con un analizzatore di spettro. Utilizzando un analizzatore di spettro, però, le tensioni devono essere moltiplicate per la radice di 2 (1,41…) per ottenere gli stessi valori di picco mostrata da un oscilloscopio, dato che un analizzatore di spettro mostra sempre il vero valore efficace (rms) di un segnale.

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