La Norma CEI 82-16 (CEI EN 61829) “Schiere di moduli fotovoltaici (FV) in silicio cristallino – Misura sul campo delle caratteristiche I-V” descrive le procedure per la misura nel campo delle caratteristiche di schiere di moduli fotovoltaici (FV) in silicio cristallino e per l’estrapolazione di questi dati alle condizioni di prova normalizzate (STC) o ad altri valori scelti di temperatura e irraggiamento.

Rispetto alla precedente edizione, di cui costituisce una revisione tecnica, nella nuova norma sono state introdotte, tra le altre, le seguenti modifiche principali:

• sono tenute in considerazione molte procedure ormai superate
• sono considerati apparecchi comunemente utilizzati per la registrazione di curve I-V
• è indicato un approccio pratico per tenere conto delle incertezze del campo
• sono rimosse e sostituite procedure che fanno riferimento ad altre norme pertinenti,incluse quelle della serie IEC 60904 e la IEC 60891

La nuova Norma sostituisce completamente la Norma CEI EN 62052-31:1999-03, che rimane applicabile fino al 26-02-2019.

Il testo della norma è al momento disponibile in inglese, successivamente sarà disponibile tramite il CEI la versione con traduzione in italiano affiancata.