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Seminari KeysightI fondamenti di segnali complessi, dalle modulazioni digitali a singolo portante ai segnali multi-portante di tipo OFDM.

Particolare attenzione e enfasi verrà data all’analisi di segnali utilizzati nelle comunicazioni wireless (5G) e in applicazioni tipiche del mercato Aerospazio e Difesa (segnali impulsati e modulati). Verranno inoltre eseguite dimostrazioni pratiche mediante l'uso del software Pathwave 89600 VSA di Keysight.

ll webinar sarà presentato in diretta l'8 aprile 2020 alle 15:00 da Francesco Spadafora.

Seminari KeysightDai materiali invisibili per rivestire gli aerei stealth ai substrati dielettrici, dai cibi per il microonde ai biocarburanti, la caratterizzazione delle proprietà elettromagnetiche di un materiale è cruciale per ottimizzare le prestazioni dei vari dispositivi e apparati in presenza di campi elettromagnetici a radiofrequenze e microonde.

ll webinar sarà presentato in diretta mercoledi 15 aprile 2020 alle 11:00 da Giulio Campagnaro.

Risoluzione, banda passante, frequenza di campionamento e numero di canaliAlta risoluzione o alta definizione sono due termini oggi comunemente utilizzati dai produttori di oscilloscopi digitali per pubblicizzare le caratteristiche dei loro più moderni strumenti a banda larga.

Questo seminario online approfondisce dettagliatamente i vari approcci utilizzati nella progettazione di oscilloscopi digitali ad alta risoluzione, con esempi pratici del loro impatto sulle prestazioni dello strumento.

Seminari KeysightLe moderne esigenze dei data center e il decentramento delle risorse di calcolo richiedono una sempre maggiore larghezza di banda dei bus di memoria DDR.

Dimostriamo su una moderna soluzione Edge Computing con bus DDR4/2400MT/s la misurazione della correlazione delle simulazioni di canale DDR utilizzando il software Pathwave Advanced Design System (ADS) e gli oscilloscopi Infiniium.

ll webinar sarà presentato in diretta martedì 21 aprile 2020 alle 11:00 da Riccardo Giacometti.

Metrology for Industry 4.0 and IoTIl workshop internazionale Metrology for Industry 4.0 and IoT patrocinato dall'associazione IEEE si propone di discutere sia i contributi della metrologia per lo sviluppo dell'Industria 4.0 e dell'IoT, sia le nuove opportunità offerte dall'Industria 4.0 e dall'IoT per lo sviluppo di nuovi metodi e apparati di misura.

L'evento, che si svolgerà a Roma dal 3 al 5 giugno 2020 nella sede principale del CNR; si propone di riunire le persone che lavorano allo sviluppo di strumentazione e metodi di misura per Industry 4.0 e IoT.

Fiere e Seminari