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Sistema di collaudo parametrico di semiconduttori Tektronix S530Con il rilascio da parte di Tektronix del software KTE V7.1 per il sistema di test parametrico serie S530 di Keithley, viene accelerato lo sviluppo di dispositivi a semiconduttore in un momento in cui la richiesta di questi chip non è mai stata così elevata.

Tra le opzioni disponibili per la prima volta con la release 7.1 di KTE, da segnalare una nuova funzionalità per il test parallelo e la possibilità di effettuare il collaudo delle capacità ad alta tensione, particolarmente utile per i dispositivi di potenza di nuova generazione e per quelli realizzati con materiali WBG – Wide BandGap.

Leggi tutto: Sistema di test parametrico Tektronix S530 per il collaudo di dispositivi a semiconduttore

Piattaforma per il collaudo automatico dei semiconduttori Advantest V93000 EXAAdvantest ha sviluppato delle metodologie innovative per effettuare scansioni ad alta velocità e test funzionali  basati sul software con la sulla piattaforma di collaudo automatico dei semiconduttori V93000.

Sfruttando le interfacce I/O seriali ad alta velocità disponibili nei circuiti integrati (IC) avanzati, questo nuovo approccio permetterà di confrontare i risultati delle scansioni basate su procedure consolidate con quelli delle nuove procedure, eseguire software per effettuare test più esaustivi sui su chip e ottenere un flusso continuo di dati end-to-end che verrano condivisi con i partner di Advantest nel campo dell’automazione della progettazione elettronica (EDA).

Leggi tutto: Scansioni ad alta velocità e test funzionali basati sul software nella piattaforma Advantest V93000

Scheda Advantest 500MDM Digital ModuleAdvantest ha presentato due nuovi strumenti di misura hardware per applicazioni generiche, il modulo digitale 500MDM e il modulo di alimentazione DPS32A, che permettono di incrementare le capacità della piattaforma di test T2000 in diverse applicazioni, come il collaudo di dispositivi system-on-a-chip (SoC), circuiti integrati di gestione dell’alimentazione, dispositivi automotive e sensori CMOS per le immagini.

Entrambe le nuove unità hardware possono essere integrate in sistemi di test già esistenti, come la piattaforma di test T2000 AiR, il cui design compatto è ideale per l’impiego in ambienti diversi, dai laboratori d’ingegneria alla produzione in grande serie.

Leggi tutto: Modulo digitale e di alimentazione per tester Advantest T2000

Tester Advantest H5620ESAdvantest ha aggiunto alla sua famiglia di tester per circuiti integrati di memoria H5600 il nuovo modello H5620ES, estremamente versatile e progettato per il collaudo burn-in e core ad alta velocità delle memorie DDR4 e delle memorie DDR5 di prossima generazione, oltre che di dispositivi a bassa potenza e doppio data rate (LPDDR).

Si tratta di una macchina specificatamente progettata per migliora l’efficienza di collaudo negli ambienti di laboratorio prima del passaggio alla produzione in grande serie.

Leggi tutto: Tester di circuiti integrati di memoria DDR4 e DDR5

Sistema ATE Advantest V93000Advantest Corporation ha lanciato la sua nuova generazione di schede Wave Scale dedicate ai segnali a radiofrequenza per la piattaforma di collaudo automatico V93000, che permettono di eseguire velocemente tutti i test sui ricetrasmettitori per reti Wi-Fi 6E, 5G-NR, LTE-Advanced Pro e IoT che lavorare con frequenze fino a 8 GHz.

La nuova scheda V93000 Wave Scale RF8 è in grado di eseguire collaudi multisito ad elevato parallelismo e in-site, riducendo il costo del collaudo e il time-to-market per i moderni semiconduttori RF, in particolare quelli destinati alle reti 5G NR.

Leggi tutto: Scheda Advantest Wave Scale RF8 per collaudo circuiti integrati Wi-Fi 6E e di comunicazione fino a...

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