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Adattatori di test EloprintL'azienda tedesca Eloprint si è specializzata nella produzione rapida di adattatori di test (fixture) personalizzati per il collaudo delle schede elettroniche mediante le tecnologie additive di stampa 3D.

Realizzabili su misura in base alla forma e dimensioni della scheda del cliente, permettono di ottenere nel giro di 1-3 settimane una fixture completa e pronta all'uso per il collaudo funzionale.

Leggi tutto: Adattatori di test personalizzati stampati in 3D

Piattaforma di test Advantest EXA Scale EXAdvantest ha ampliato la sua piattaforma di collaudo automatico V93000 per facilitarne l’utilizzo in ambito ingegneristico con l'introduzione della nuova stazione di test EXA Scale EX, progettata per lo sviluppo, il debug e la caratterizzazione di test strutturali e funzionali su circuiti integrati digitali complessi.

La stazione EXA Scale EX, molto compatta ed economicamente conveniente, è una soluzione ottimizzata per aumentare la capacità di validazione dei laboratori di progettazione dei circuiti integrati, oltre ad essere perfettamente compatibile con la produzione in grandi volumi, agevolando così il compito degli specialisti del collaudo nel trasformare le procedure di test appena sviluppate in programmi di collaudo per la produzione.

Leggi tutto: Stazione di test compatta per laboratori di progettazione di circuiti integrati

T2000 IP Engine 4La nuova soluzione di collaudo T2000 IP Engine 4 (Image Processing Engine 4) di Advantest permette di elaborare le immagini molto velocemente facilitando il test dei sensori di immagine CMOS (CIS).

Una volta integrato nella piattaforma di collaudo per semiconduttori T2000 ISS, il nuovo sistema T2000 IP Engine 4, rappresenta lo strumento ottimale per valutare i dispositivi CIS più recenti ad alta risoluzione e ad alta velocità frequentemente utilizzati nelle fotocamere, come quelle presenti negli smartphone avanzati.

Leggi tutto: T2000 IP Engine 4 per il test dei sensori di immagine CMOS

Advantest Link ScaleAdvantest Corporation ha lanciato la sua nuova gamma di schede a canali digitali Link Scale per la sua piattaforma di collaudo automatico V93000, che permettono l’esecuzione di test funzionali sui circuiti integrati SoC (System on Chip) tramite le interfacce seriali ad alta velocità USB e PCI Express (PCIe)

Molti dei circuiti integrati SoC di ultima generazione, come microprocessori, processori grafici e acceleratori di applicazioni AI (intelligenza artificiale) sono dotati di interfacce digitali ad alta velocità, quali USB o PCIe, che possono essere sfruttate dalle nuove schede Link Scale per trasferire in modo estremamente rapido i dati di stimolo per effettuare i collaudi funzionali e le scansioni, aumentando al contempo la copertura e la velocità del test.

Leggi tutto: Schede Advantest Link Scale per il collaudo di circuiti integrati SoC complessi

Sistema di collaudo parametrico di semiconduttori Tektronix S530Con il rilascio da parte di Tektronix del software KTE V7.1 per il sistema di test parametrico serie S530 di Keithley, viene accelerato lo sviluppo di dispositivi a semiconduttore in un momento in cui la richiesta di questi chip non è mai stata così elevata.

Tra le opzioni disponibili per la prima volta con la release 7.1 di KTE, da segnalare una nuova funzionalità per il test parallelo e la possibilità di effettuare il collaudo delle capacità ad alta tensione, particolarmente utile per i dispositivi di potenza di nuova generazione e per quelli realizzati con materiali WBG – Wide BandGap.

Leggi tutto: Sistema di test parametrico Tektronix S530 per il collaudo di dispositivi a semiconduttore

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