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Piattaforma per il collaudo automatico dei semiconduttori Advantest V93000 EXAAdvantest ha sviluppato delle metodologie innovative per effettuare scansioni ad alta velocità e test funzionali  basati sul software con la sulla piattaforma di collaudo automatico dei semiconduttori V93000.

Sfruttando le interfacce I/O seriali ad alta velocità disponibili nei circuiti integrati (IC) avanzati, questo nuovo approccio permetterà di confrontare i risultati delle scansioni basate su procedure consolidate con quelli delle nuove procedure, eseguire software per effettuare test più esaustivi sui su chip e ottenere un flusso continuo di dati end-to-end che verrano condivisi con i partner di Advantest nel campo dell’automazione della progettazione elettronica (EDA).

Leggi tutto: Scansioni ad alta velocità e test funzionali basati sul software nella piattaforma Advantest V93000

Scheda Advantest 500MDM Digital ModuleAdvantest ha presentato due nuovi strumenti di misura hardware per applicazioni generiche, il modulo digitale 500MDM e il modulo di alimentazione DPS32A, che permettono di incrementare le capacità della piattaforma di test T2000 in diverse applicazioni, come il collaudo di dispositivi system-on-a-chip (SoC), circuiti integrati di gestione dell’alimentazione, dispositivi automotive e sensori CMOS per le immagini.

Entrambe le nuove unità hardware possono essere integrate in sistemi di test già esistenti, come la piattaforma di test T2000 AiR, il cui design compatto è ideale per l’impiego in ambienti diversi, dai laboratori d’ingegneria alla produzione in grande serie.

Leggi tutto: Modulo digitale e di alimentazione per tester Advantest T2000

Tester Advantest H5620ESAdvantest ha aggiunto alla sua famiglia di tester per circuiti integrati di memoria H5600 il nuovo modello H5620ES, estremamente versatile e progettato per il collaudo burn-in e core ad alta velocità delle memorie DDR4 e delle memorie DDR5 di prossima generazione, oltre che di dispositivi a bassa potenza e doppio data rate (LPDDR).

Si tratta di una macchina specificatamente progettata per migliora l’efficienza di collaudo negli ambienti di laboratorio prima del passaggio alla produzione in grande serie.

Leggi tutto: Tester di circuiti integrati di memoria DDR4 e DDR5

Sistema ATE Advantest V93000Advantest Corporation ha lanciato la sua nuova generazione di schede Wave Scale dedicate ai segnali a radiofrequenza per la piattaforma di collaudo automatico V93000, che permettono di eseguire velocemente tutti i test sui ricetrasmettitori per reti Wi-Fi 6E, 5G-NR, LTE-Advanced Pro e IoT che lavorare con frequenze fino a 8 GHz.

La nuova scheda V93000 Wave Scale RF8 è in grado di eseguire collaudi multisito ad elevato parallelismo e in-site, riducendo il costo del collaudo e il time-to-market per i moderni semiconduttori RF, in particolare quelli destinati alle reti 5G NR.

Leggi tutto: Scheda Advantest Wave Scale RF8 per collaudo circuiti integrati Wi-Fi 6E e di comunicazione fino a...

Tester in-circuit Keysight 3070 serie 6Nel 1989 la Fiat Tipo vinceva il premio Auto dell'Anno, mentre Hewlett-Packard (antenata dell'odierna Keysight) presentava il sistema di collaudo automatico 3070, un tester in-circuit destinato a fare la storia nel settore della produzione elettronica.

A distanza di trent'anni, per la Fiat Tipo non si paga più nemmeno il bollo in quanto auto d'epoca, mentre la quinta generazione del mitico tester 3070 è stata appena presentata da Keysight col dovuto rispetto in occasione della fiera Productronica (e chiamata i3070 Series 6 in omaggio alle superstizioni cinesi).

Leggi tutto: Sistema di collaudo in-circuit Keysight i3070 Serie 6

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