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Analizzatori Anritsu ShocklineAnritsu ha annunciato la dsipsonibilità della nuova funzionalità di scansione simultanea per il suo analizzatore di reti vettoriale (VNA) ShockLine MS46131A, strumento che supporta frequenze di lavori fino a ben 43,5 GHz.

Questa funzionalità avanzata permette di effettuare misure simultanee dei parametri S su fino a quattro dispositivi 1 porta con più strumenti modello MS46131A. Ciascuna unità può essere configurata in modo indipendente con impostazioni di test personalizzate, quali frequenze di avvio e arresto, larghezza di banda IF e numero di punti, mentre tutte le unità eseguono scansioni in parallelo.

Il risultato è una riduzione significativa dei tempi di test e una maggiore flessibilità per un'ampia gamma di scenari di test.

La nuova funzione Simultaneous Sweep consente l'attivazione coordinata della scansione tramite un segnale esterno, sincronizzando l'avvio delle scansioni su più VNA.

Ideale per ambienti di test multibanda e multi-configurazione, la nuova funzione consente la caratterizzazione sincronizzata di antenne multibanda e la valutazione delle prestazioni di percorsi paralleli.

Il funzionamento remoto è supportato tramite comandi SCPI su numeri di porta TCP assegnati in modo univoco per ciascuno dei VNA MS46131A, consentendo la completa automazione e la perfetta integrazione in sistemi di test distribuiti.

La nuova funzionalità risulta particolarmente adatta in diverse applicazioni, tra cui:

  • Test di antenne multibanda per reti LTE e Wi-Fi 7 (fino a 7 GHz)
  • Valutazioni componenti 5G per collegamenti sub-6 GHz e a microonde (inclusi FR2, da 24,25 a 52,6 GHz, e FR3, da 7,125 a 24,25 GHz)
  • Valida di schiere di antenne a fase controllata, dove le misurazioni simultanee su più elementi radianti migliorano sia la velocità che la comprensione del progetto
  • Sistemi di test remoti o distribuite, compreso l'uso in camere anecoiche

Un'interfaccia PC centralizzata gestisce tutti gli strumenti collegati, semplificando sia la configurazione dei test che la gestione dei dati.
test modulari.

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