Advantest ha annunciato la sviluppo di una cella di test integrata progettata per massimizzare i rendimenti dei test a livello di die sui dispositivi di potenza con semiconduttori ad elevata banda proibita (wide-bandgap).
La nuova cella di test Known Good Die (KGD) di Advantest combina il tester per dispositivi di potenza della serie CREA MT dell'azienda con il nuovo die prober HA1100.
La domanda di semiconduttori di potenza continua a crescere trainata dalla la rapida diffusione dei veicoli elettrici (EV) e delle infrastrutture di ricarica. I dispositivi WBG (Wide BandGap), in particolare il carburo di silicio (SiC) e il nitruro di gallio (GaN), sono essenziali per la progettazione e la produzione dei semiconduttori di potenza, che possono essere più piccoli, più veloci e più efficienti dei dispositivi basati sul silicio.
Tuttavia, lo screening dei guasti nei dispositivi WBG è impegnativo, poiché la probe card e le sonde a contatto dei dispositivi possono essere danneggiati a causa dell'alta tensione e della corrente a cui operano.
Funzionano come soluzione integrata per la gestione efficiente delle apparecchiature, la cella di prova KGD di Advantest aiuta a ridurre i costi di produzione dei clienti. La tecnologia proprietaria PCI (Probe Card Interface) per creare linee di contatto a bassissima induttanza di CREA aiuta a mitigare il rischio di danni alle apparecchiature durante l'esecuzione delle prove ad alta potenza.
Tuttavia, qualora si verificasse un danno, Advantest può analizzarlo utilizzando la cella di prova, consentendo ai clienti di ridurre al minimo i tempi di inattività. Il die prober HA1100 per i sistemi di test CREA della serie MT consente l'assemblaggio di die nei moduli di potenza utilizzando solo die che funzionano correttamente (KGD), assicurando che nessuna die malfunzionante venga inserito nel modulo di potenza. In tal modo si evita la perdita di rendimento che si manifesterebbe nel momento del collaudo finale del modulo, riducendo così la perdita dei moduli di potenza finali assemblati con più die.
“La nostra nuova cella di test KGD è la prima soluzione che combina i tester CREA MT con la comprovata tecnologia di manipolazione di Advantest, consentendo l'esecuzione di test dinamico a livello di die”, ha dichiarato Kazuyuki Yamashita, vicepresidente esecutivo del gruppo DH di Advantest. “La tecnologia CREA PCI regola l'alimentazione/energia per proteggere la probe card, il chuck e i dispositivi da eventuali danni durante il collaudo di die difettosi: un elemento di differenziazione competitivo che consente ai clienti di assemblare i loro moduli di potenza con fiducia”.
