Advantest Corporation ha presentato il sistema di collaudo per memorie DRAM ad alta velocità di nuova generazione T5511 che permette di eseguire test con una velocità fino a 8 Gbps.

Il nuovo sistema di collaudo automatico della multinazionale giapponese è adatto anche al collaudo dei più veloci dispositivi GDDR5-SDRAM con un'architettura che supporta la velocità massima di collaudo su tutti i pin contemporaneamente.

Essenziale per il collaudo dei nuovi dispositivi DDR4-SDRAM e GDDR5-SDRAM, la funzionalità di training di clock è integrata nell’hardware di T5511. Ciò permette di ottenere miglioramenti di produttività irrealizzabili con la gestione di tale funzione tramite l’implementazione di soluzioni software.

Il sistema di collaudo automaticp T5511 offre inoltre una funzione hardware per la generazione dei codici CRC necessaria per il test degli avanzati dispositivi DDR4-SDRAM e GDDR5-SDRAM. L’hardware genera automaticamente i codici CRC, riducendo il carico di lavoro dell’operatore e garantendo una creazione più semplice dei programmi di test.

Le configurazioni del sistema di collaudo partono dai 384 pin per l'utilizzo in ambito di ricerca e sviluppo fino a una configurazione massima di 6.144 pin orientata alle linee per la produzione di massa.