Advantest presentato la sua nuova soluzione di test T2000 IMS dedicata al collaudo ad elevato parallelismo di microcontrollori dotatI di circuiti analogici e di memoria flash integrati, tra cui quelli dedicati al mercato delle smart card.

Progettata per effettuare il collaudo su vasta scala di un massimo di 256 dispositivi contemporaneamente, la nuova soluzione integrata di test ad elevato parallelismo di Advantest è caratterizzata da un'architettura universale per pin del tester che gestisce internamente 208 canali con risorse di misura diversificate per garantire la massima flessibilità.