Advantest Corporation ha annunciato il nuovo modulo LJC16 a 16 canali di clock a basso jitter per il suo sistema di collaudo automatico di circuiti integrati T2000.

Caratterizzato dalla possibilità di generare segnali di clock multipli digitali e analogico/sinusoidali in un singolo strumento, il modulo LJC16 facilita il collaudo di tutte le funzioni legate al clock garantendo un maggior grado di copertura dei test.

La sempre più elevata frequenza di lavoro dei segnali di I/O dei moderni circuiti integrati digitali e analogici richiede che il segnale clock utilizzato per collaudarne il corretto funzionamento sia sempre più accurato.

Per ottenere la massima resa di produzione, il collaudo dei semiconduttori avanzati deve pertanto essere eseguito utilizzando sorgenti di clock con jitter inferiore ai 500 femtosecondi, frequenze dell'ordine dei gigahertz con duty-cycle programmabile e ottime caratteristiche di accuratezza per generare i segnali sinusoidali necessari a collaudare i convertitori analogici-digitali (A/D).

Grazie al nuovo modulo LJC16 presentato da Advantest, è possibile eseguire tutti i test richiesti con un unico strumento, evitando di ricorrere a più moduli. Ne consegue un risparmio in termini d’investimento, una riduzione dei tempi di collaudo e una maggiore copertura di test con singolo modulo.

“Con il nuovo modulo tre-in-uno, la nostra piattaforma T2000 diviene il sistema più conveniente e versatile nel settore del collaudo di dispositivi digitali e a segnale misto ad alta velocità, offrendo al contempo prestazioni di jitter all’avanguardia” ha affermato Jay Sakamoto, Senior Vice President della Strategic Business Unit (SBU) di Advantest. “Questa soluzione è senza dubbio la più economica e flessibile rispetto ad altri prodotti presenti sul mercato, quali ad esempio tester di fascia alta che richiedono l’istallazione di più moduli o soluzioni di test incomplete che difettano di pin digitali ad alta frequenza e sorgenti di clock a basso jitter.”