Advantest ha presentato la sua nuova piattaforma di collaudo per dispositivi di potenza a semiconduttore MTe.

L’innovativa architettura della piattaforma MTe ridefinisce l’efficienza e la scalabilità del collaudo, rispondendo alle esigenze del mercato dei semiconduttori di potenza.

La crescente domanda di elettrificazione nei settori automotive, industriale, energie rinnovabili, telecomunicazioni e “high performance computing (HPC)” impone ai produttori di dispositivi prestazioni sempre più elevate e una riduzione dei costi di produzione, incluso il costo del test.

La piattaforma MTe risponde a queste esigenze combinando un’architettura hardware modulare, una scalabilità di sistema senza precedenti e misure rapide e precise, ridefinendo lo standard in termini di prestazioni ed efficienza.

«Il concetto MTe incarna la nostra visione di rendere il collaudo semplice, grazie alla sua scalabilità, flessibilità e sostenibilità», ha dichiarato Fabio Marino, amministratore delegato di CREA, società del gruppo Advantest. «Offriamo ai nostri clienti una soluzione unificata che evolve insieme alle esigenze produttive, consentendo una transizione fluida dalla R&D alla produzione in volumi, garantendo prestazioni e affidabilità di alto livello.»

Progettata con tecnologia all’avanguardia di Advantest, MTe offre una significativa riduzione dell’ingombro e una distribuzione ottimizzata delle risorse, senza compromettere le prestazioni—un fattore chiave per attrarre i principali attori nel mercato IDM (produttori di dispositivi integrati) e OSAT (fornitori di servizi di assemblaggio e test di semiconduttori in outsourcing).

La piattaforma MTe è in grado di affrontare le sfide di test imposte dalle nuove generazioni di semiconduttori ad elevata banda probita (es. SiC e GaN), nonché l’integrazione di core IP digitali nei dispositivi di potenza (es. IPM e IPD), includendo schede di acquisizione a larga banda e alte prestazioni, controllo dei driver di gate ai massimi livelli, test dinamici (e di cortocircuito) fino a 10kA e stimoli digitali ad alta tensione.

In linea con la tradizione di Advantest nel fornire piattaforme di test scalabili, l’architettura di calcolo distribuito di MTe garantisce un’efficienza significativa nel collaudo parallelo e un throughput ottimizzato.