Siemens Digital Industries Software ha presentato Tessent AnalogTest, una soluzione innovativa che riduce i tempi di generazione dei modelli per i test dei circuiti analogici da mesi a giorni. La soluzione consente di verificare i circuiti analogici nei circuiti integrati (IC) con una velocità fino a 100 volte superiore rispetto ai metodi manuali tradizionali.

Il collaudo dei circuiti analogici è sempre stato un'attività laboriosa, che richiedeva una codifica dei test prolungata e costose apparecchiature di collaudo a segnale misto. In combinazione con la tecnologia Tessent DefectSim di Siemens, il nuovo software Tessent AnalogTest contribuisce a ridurre drasticamente i tempi di codifica dei test per i circuiti analogici nei circuiti integrati, generando automaticamente circuiti DFT (design-for-test) a impatto minimo e modelli di test digitali per quasi tutti i blocchi di circuiti analogici.

I test vengono eseguiti in meno di un millisecondo su quasi tutti i tester e la copertura dei difetti può essere verificata in simulazione fino a 1000 volte più velocemente rispetto ai test basati sulle specifiche.

L'introduzione di Tessent AnalogTest segna la prima soluzione DFT automatizzata per circuiti analogici nei circuiti integrati, fornendo vettori digitali per verificare e calcolare in modo efficiente la copertura dei test prima del passaggio alla produzione di silicio.

La soluzione sfrutta apparecchiature di test automatizzate digitali (ATE) per lo sviluppo di circuiti analogici, consentendo una riduzione dei costi e una maggiore produttività rispetto all'utilizzo di tester a segnale misto più costosi. Questa accelerazione consente ai progettisti di circuiti integrati di ottenere e verificare una copertura dei difetti elevata (>90%) basata sullo standard IEEE P2427 in poche ore per singoli blocchi di circuiti, stabilendo nuovi benchmark di velocità e riducendo drasticamente il time-to-market.

“Questo software all'avanguardia offre risultati di test rapidi, garantendo al contempo una maggiore copertura dei difetti analogici e test fino a 100 volte più veloci rispetto ai metodi convenzionali”, ha affermato Ankur Gupta, vicepresidente senior e direttore generale della piattaforma di creazione di progetti digitali di Siemens Digital Industries Software. “Il software Tessent AnalogTest rappresenta un enorme passo avanti nell'affrontare le principali sfide in termini di qualità e costi associate ai test dei circuiti analogici, consentendo ai nostri clienti di semplificare i processi e ridurre i costi complessivi dei test”.

Il software amplia in modo unico le sue capacità di generazione di test strutturali producendo banchi di prova di simulazione da test basati su specifiche, utilizzando le intuitive descrizioni di test ICL e PDL di alto livello come specificato dallo standard IEEE P1687.2, che è l'estensione analogica dello standard digitale IJTAG ampiamente utilizzato.Infrastrutture IJTAG in cui i blocchi analogici appaiono come digitali

Questi test possono verificare il flusso di test analogici e la copertura dei difetti di trimming, così come effettuare test parametrici o verificare le metriche di sicurezza funzionale ISO 26262. Inoltre, l'integrazione dei test di scansione può migliorare ulteriormente queste metriche.