Tektronix ha presentato il sistema di collaudo parametrico per semiconduttori di potenza totalmente automatico Keithley S540, che permette di effettuare test parametrici totalmente automatici sui wafer usando 48 pin.

Si tratta di uno strumento ottimizzato per effettuare prove fino a 3 kV su dispositivi di potenza e strutture realizzate con i materiali composti di ultima generazione, tra cui carburo di silicio (SiC) e nitruro di gallio (GaN), oltre che di effettuare le classiche misure ad alta tensione, basse tensione e di capacità su ogni tipo di materiale semiconduttore con un singolo contatto della sonda sul wafer.

L'avvento dei nuovi materiali composti per la produzione di semiconduttori di potenza sta creando nuove esigenze per le attività di collaudo e caratterizzazione parametrica legate alla maggiore tensione ammessa da questa nuova generazione di dispositivi.

La soluzione integrata offerta dal nuovo tester S540 proposta da Tektronix con il marchio Keithley permette di passare velocemente dall'esecuzione di prove a bassa tensione a quelle ad alta tensione, mantenendo un'elevata velocità, sia in laboratorio che negli ambienti di produzione.

Il nuovo tester S540 può effettuare misure parametriche su fino a 48 pin senza dover modificare i cablaggi o l'infrastrutture dalle schede. Inoltre, può effettuare misure sulla capacità dei transistor, come C_iss, C_oss e C_rss, fino a 3 kV, sempre senza dover cambiare manualmente la configurazione dei pin di prova.

Infine, la capacità di eseguire misure di corrente sotto il pA e misure completamente automatiche della corrente di dispersione a tensioni elevate in meno di 1 s contribuisce a ottenere prestazione ai massimi livelli in questo settore.