L'unità di alimentazione e misura (SMU) PXIe-4163 di National Instruments è una scheda a alta densità per sestuplicare il numero di canali disponibili nel sistema di collaudo automatico per semiconduttori (STS) della multinazionale americana, ma che può essere sfruttata anche in qualunque sistema modulare PXI per effettuare misure parametriche.

La nuova scheda PXIe-4163 SMU ospita ben 24 canali di alimentazione e misura con funzionalità avanzate per occupando un solo slot PXI Express.

Tra le caratteristiche tecniche distintive della scheda PXIe-4163 si segnalano:

• Intervallo di tensione di ±24 V per canale
• Fino a 100 mA di corrente erogata o assorbita per canale
• Sensibilità di corrente di 100 pA
• Frequenza di campionamento e aggiornamento fino a 100 kS/s
• Tecnologia SourceAdapt per minimizzare oscillazioni e ondulazioni in presenza di carichi capacitivi
• Software di configurazione e debug interattivo

L'elevata densità di questa nuova scheda SMI di precisione consente di realizzare sistemi con ben 408 canali di misura in un singolo cestello PXI di altezza 4U.

Per semplificare le applicazioni nel settore dei semiconduttori, National ha integrato tutte le funzionalità di supporto nel suo sistema STS (Semiconductor Test System), tra cui la gestione del cablaggio a livello di sistema, la taratura dei canali e la mappature dei collegamenti ai pin.