Advantest ha annunciato del sistema di collaudo automatico di semiconduttori T2000 AiR2X, un tester raffreddato ad aria di nuova generazione progettato per soddisfare la crescente domanda di soluzioni compatte ed economiche in ambienti di valutazione e produzione ad alta varietà e basso volume.

La nuova soluzione è completamente compatibile con il sistema di test T2000 e offre il doppio delle risorse di misura rispetto al precedente sistema di collaudo raffreddato ad aria T2000 AiR, pur mantenendo bassi requisiti di alimentazione e raffreddamento.

Il T2000 AiR2X risponde a molteplici esigenze di mercato convergenti, tra cui il supporto di fine vita per i sistemi legacy, come i tester dekle serie T6500 e T7700, e le continue esigenze di sostituzione dei tester compatti raffreddati ad aria.

Con una moltitudine di sistemi di test raffreddati ad aria per dispositivi SoC in funzione in tutto il mondo, la nuova soluzione T2000 AiR2X consente ad Advantest di soddisfare la domanda sostenuta in questo mercato in forte crescita.

“Il nostro tester T2000 AiR2X compatto e raffreddato ad aria e la piattaforma V93000 ad alta densità e con un elevato numero di pin creano una soluzione di test unificata che copre l'intera gamma di soluzioni per il collaudo di circuiti integrati SoC ricchi di funzionalità digitali”, ha affermato Toshiaki Adachi, responsabile dell'unità di prodotto T2000 di Advantest. “Il modello T2000 aumenta l'efficienza di implementazione, facilita la migrazione dai tester obsoleti e raddoppia la capacità delle risorse per superficie, mentre la piattaforma V93000 offre le prestazioni richieste per il collaudo dei SoC più avanzati e prodotti su larga scala. Insieme, questa coppia complementare riduce i costi di implementazione dei SoC e l'impatto ambientale, dalla valutazione alla produzione di massa, fornendo soluzioni complete per supportare l'innovazione dei clienti”.

Con la sua configurazione di misura flessibile, il tester T2000 AiR2X supporta fino a 12 moduli di misura, tra cui test funzionali/SCAN, test DC ad alta precisione e test DC per dispositivi automobilistici fino a 320 V. L'esclusiva funzione di controller multisito del sistema riduce significativamente i tempi di test durante la produzione in serie.

Il modello T2000 AiR2X incorpora la scheda ad alte prestazioni T2000 RECT550 di Advantest, che supporta in modo flessibile un'ampia gamma di configurazioni, insieme a un'infrastruttura di supporto unificata e un'ampia scelta di moduli di espansione, adottando lo stesso ambiente di programma utilizzato nel modello T2000.

Inoltre, il Rapid Development Kit (RDK) riduce significativamente lo sforzo richiesto per la creazione e il debug dei programmi, contribuendo a ridurre i tempi di migrazione e implementazione della piattaforma.