Embedded World - Norimberga, 10-12 marzo 2026
L'edizione 2026 della fiera che riunisce la comunità internazionale dell’elettronica si svolgerà Centro Espositivo di Norimberga dal 10 al 12 marzo 2026. L'evento combina una…
Agilent Technologies ha presentato la versione digitale del suo sistema di collaudo in-circuit a basso costo Medalist i1000D, le cui funzionalità rappresentano una via di mezzo tra quelle dei tester in-circuit (ICT) di fascia alta e quelle dei più semplici analizzatori di difetti di produzione (MDA).
La nuova versione digitale del tester Medalist i1000D di Agilent offre, oltre alle funzionalità di misura analogiche classiche, anche la capacità di analizzare catene boundary scan e di programmare componenti mediante i bus seriali I2C/SPI.
Come gli altri membri della stessa famiglia di tester, utilizza la tecnologia innovativa sviluppata da Agilent VTEP v.2.0, che permette di eseguire collaudo senza la generazione preventiva di vettori di test e con le ultime versioni della tecnologia Cover-Extend, che permette di sfruttare ancora di più il boundary scan per collaudare schede dove l'accesso ai componenti è limitato.
Il tester può utilizzare due tipi di attrezzature di contatto (fixture), una più economica con collegamenti in cavo simili a quelle usate negli analizzatori di difetti, oppure una più sofisticata con chiusura sotto vuoto e bloccaggio meccanico tramite attuatori elettrici.
