Advantest ha presentato il sistema di collaudo automatico T5851 progettato specificatamente per verificare il corretto funzionamento dei circuiti integrati di memoria utilizzati nei dischi allo stato solido (SSD) con interfaccia Universal Flash Storage (UFS) e PCIe BGA, attualmente molto richiesti dai produttori di dispositivi mobili a basso consumo quali smartphone, tablet e laptop ultraportatili.

Il tester T5851 è disponibile sia in versione da linea di produzione che in quella orientata allo sviluppo ingegneristico e alla validazione dei nuovi prodotti.

Il sistema di collaudo automatico Advantest T5851 può essere utilizzato a scopi di omologazione e verifica dell'affidabilità, nonché per lo sviluppo di programmi di test, oppure, qualora venga collegato ad un handler come il modello M6242 di Advantest, per il collaudo in produzione in grande serie.

Come soluzione di collaudo a livello di sistema completamente integrata, il tester T5851 offre un supporto multi-protocollo in un unico strumento, mentre l'architettura tester-per-DUT e l'acceleratore hardware proprietario permettono di accorciare notevolmente i tempi di collaudo.

Realizzato con la stessa architettura di collaudo già utilizzata nella famiglia di tester MPT3000 Advantest per la verifica di dispositivi SSD, il tester T5851 permette di contenere al minimo gli investimenti di capitale e i rischi operativi grazie alla sua sua struttura modulare e all'utilizzo del software FutureSuite già diffuso negli altri tester della famiglia T5800.

Gli alimentatori programmabili (PPS) scalabili a corrente elevata sono compatibili con qualsiasi dispositivo esistente e di nuova generazione. Inoltre, il design robusto del modulo e la capacità di raffreddamento a liquido conferiscono a T5851 un'affidabilità di livello superiore superiore.