Yokogawa ha annunciato la disponibilità del del suo nuovo riflettometro ad alta risoluzione AQ7420.
Basato sulla tecnologia OLCR (Optical Low-Coherence Reflectometry), il riflettometro AQ7420 ben si presta per l'analisi della struttura interna dei moduli ottici e l'identificazione di microfratture nei connettori ottici.
Lo strumento offre una risoluzione spaziale di 40 µm e un'eccellende sensibilità per la misura della riflessione posteriore (back reflection) fino a -100 dB o inferiore senza rumore spurio. In combinazione con l'unità opzionale della testa del sensore, è possibile misurare simultaneamente la perdita di inserzione insieme alla riflessione posteriore rendendo il modello AQ7420 un riflettometro altamente efficiente e conveniente per le applicazioni del mercato ottico.
Nel mercato delle comunicazioni ottiche gli sviluppatori sono continuamente alla ricerca di soluzioni per ridurre il rumore spurio, oltre che di strumenti che facilitino la misura simultanea della riflessione posteriore e della perdita di inserzione, una maggiore stabilità delle forme d'onda misurate e tempi di misurazione più veloci.
La soluzione proposta da Yokogawa è il nuovo riflettometro ad alta risoluzione AQ7420, disponibile in due modelli: a lunghezza d'onda singola (1310 nm) e a due lunghezze d'onda (1310 e 1550 nm).
