Advantest ha presentato il suo nuovo tester per semiconduttori T2000 AiR, un sistema di collaudo automatico compatto e raffreddato ad aria ottimizzato per il collaudo a basso costo adatto sia ai laboratori di ricerca e sviluppo, sia agli ambienti di produzione a basso volume di prodotti differenziati.

Il tester per semiconduttori T2000 AiR di Advantest offre un'estesa copertura per il collaudo dei diversi moduli e dispositivi System-in-Package (SiP). Grazie all'architettura modulare caratterizzata da estrema flessibilità, il tester permette la configurazione con sei moduli di misura raffreddati ad aria.

La flessibilità di questo sistema automatico di collaudo permette di ottenere una copertura dei test utilizzando un unico tester per una vasta gamma di dispositivi multifunzionali a elevata integrazione.

Progettato per eseguire funzioni digitali e test SCAN su 512 canali in parallelo, il sistema può collaudare dispositivi ad alta tensione fino a 2.000 V, convertitori DC ad alta precisione, dispositivi in corrente continua per il settore automobilistico, circuiti integrati a segnale misto con larghezza di banda fino a 100 MHz, chip per comunicazioni RF e sensori di immagini CMOS.

Il nuovo tester può essere integrato con la serie di handler M48xx per creare una soluzione per celle di test altamente efficiente a ingombro zero, che Advantest identifica come “Integrated Zero Test Station”. La progettazione di T2000 AiR rende superfluo il raffreddamento ad acqua, pertanto il sistema si presta ad essere installato praticamente ovunque.

Inoltre, l'ambiente software del tester T2000 AiR è interamente compatibile con quello degli altri prodotti della serie T2000, garantendo l'esecuzione di collaudi a elevato parallelismo e facilitando l’inizio della fase produttiva per consentire ai clienti di ridurre il time-to-market dei nuovi prodotti.