Teradyne ha annunciato il lancio di Magnum 7H, il suo tester di memorie di nuova generazione progettato per soddisfare le rigorose esigenze di collaudo dei dispositivi di memoria ad elevata larghezza di banda (HBM, High Bandwidth Memory), che vengono tipicamente utilizzati insieme a GPU e acceleratori nei server ad alte prestazioni per l’Intelligenza Artificiale generativa.

Il tester Magnum 7H è stato progettato per poter effettuare test ad elevato livello di parallelismo, alta velocità e massima precisione su memorie HBM con più die sovrapposti (stacked die) prodotte in grandi volumi.

I primi dispositivi HBM prodotti in serie e collaudati con il tester Magnum 7H di Teradyne sono già stati consegnati e il ritmo di produzione è in fase di crescita presso i principali costruttori di memorie HBM attivi sul mercato.

“Siamo entusiasti di aver introdotto il nuovo Magnum 7H, un tester di memorie rivoluzionario che stabilisce un nuovo standard per il collaudo dei dispositivi HBM”, ha dichiarato Young Kim, Presidente della Memory Test Division di Teradyne. “Questa innovazione rappresenta un traguardo significativo e coerente col nostro impegno nel far progredire la tecnologia di test delle memorie con soluzioni che non solo supportano i dispositivi di oggi, ma che sono già pronte per quelli di domani”.

Magnum 7H è un tester di memorie all’avanguardia che supporta un’ampia gamma di versioni dello standard HBM, inclusi HBM2E, HBM3, HBM3E, HBM4 e HBM4E. Offre una copertura di test completa, dal test dei wafer base-die al test del core di memoria e al burn-in, garantendo qualità e affidabilità dei dispositivi HBM.

Inoltre, Magnum 7H supporta il test di chip HBM pre separazione (pre singulated) a livello Known-Good-Stack-Die (KGSD) o Chip-on-Wafer con probers e probe card tradizionali, così come di chip HBM post separazione (post singulated) con nuovi bare-die probers/handlers, per migliorare la qualità complessiva dei dispositivi di memoria.

Tra le caratteristiche peculiare del tester Teradyne Magnum 7H vi sono:

• Elevata velocità di reazione dell’alimentazione dinamica (Dynamic Power Supply)
• Capacità di test complete su memorie e circuti logici, per verificare stack HBM che includono sia die logici, sia die di memoria DRAM. Esegue test di memoria ad alta velocità con generatore di pattern algoritmici (APG) flessibile e test logici con l’opzione Logic Vector Memory (LVM). La funzione Fail List Streaming (FLS) assicura la cattura rapida degli errori sia nei test di memoria sia nei test logici.
• Test ad alta velocità per dispositivi HBM3/3E e di nuova generazione HBM4/4E, fino a 4,5 Gbps
• Elevato parallelismo, essenziale per ridurre il costo totale di test delle memorie HBM, il tester Magnum 7H è configurabile con fino a 9.216 pin digitali e 2.560 pin di alimentazione, garantendo un’elevata efficienza di contatto in fase di probing e un aumento del throughput in ambienti di produzione di massa.