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ATE per semiconduttori NI STSNI Semiconductor Test System (STS) è il completamente nuovo sistema di collaudo automatico per semiconduttori recentemente presentato da National Instruments, che mira ad entrate in nuovo segmento di mercato puntando tutto sull'architettura modulare PXI.

La nuova famiglia di ATE di National Instruments promette di abbassare i costi rispetto alle soluzioni tradizionali sfruttando al massimo le architetture hardware standard aperte e le sue piattaforme software come TestStand e LabVIEW.

Architettura del sistema di collaudo automatico NI STS

L'architettura modulare aperta del sistema di collaudo STS consente di accedere allo sterminato catalogo di strumenti e schede PXI disponibile da numerosi fornitori, un'opportunità che può rivelarsi particolarmente vantaggiosa nell'affrontare test di componenti RF o a segnale misto, dove succede spesso che le esigenze delle ultime tecnologie di semiconduttori superano le possibilità di misura offerte dagli ATE di tipo tradizionale.

Il sistema STS di National Instruments è disponibile in tre dimensioni base, accumunate dalla stessa architettura e che differiscono per il numero di cestelli rack da 19 pollici ospitanti la strumentazione PXI che possono essere inseriti nella struttura.

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I tre modelli di NI STSIl modello STS T1 può ospitare un cestello PXI da 18 slot (formato 4U di una rack da 19 pollici), mentre i modelli STS T2 e STS T4 possono ospitarne due e quattro.

 Il software di gestione naturale di questo sistema è basato sulla piattaforma TestStand, ma per le misure specifiche e lo sviluppo di procedure National Instruments propone ovviamente il suo cavallo di battaglia LabVIEW

NI STS equipaggiato con espansione RFPer facilitare l'adozione di STS, National Instruments ha già sviluppato diverse funzionalità specifiche per gli ambienti di produzione dei semiconduttori, inclusa un'interfaccia operatore personalizzabile, l'integrazione handler/prober, la programmazione incentrata sul dispositivo con mappatura pin-channel, formati di reportistica dati di test standard e supporto multisite integrato.

Per facilitare le applicazioni di collaudo di sistemi con componenti a radiofrequenza o misti, il sistema STS nasce già predisposto per ospitare moduli e connessioni RF specifiche, alle quali si possono collegare gli strumenti di analisi definiti vi software in formato PXI che fanno parte del catalogo National Instruments, come ad esempio l'analizzatore di segnali con FPGA integrata VST.

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