Advantest ha annunciato la disponibilità di Pin Scale 5000B, una soluzione di test digitale avanzata per la sua piattaforma di collaudo dei semiconduttori V93000 EXA Scale, progettata per soddisfare i crescenti requisiti di test dei dispositivi avanzati per le applicazioni di intelligenza artificiale (AI) e di high-performance computing (HPC).

Le capacità e la complessità dei semiconduttori per AI e HPC stanno crescendo rapidamente, spinte da nodi di processo avanzati, integrazione eterogenea e architetture basate su chiplet. Tali dispositivi richiedono una copertura di test strutturale e funzionale significativamente più elevata, nonché l’elaborazione di volumi di dati di test in costante aumento.

La scheda Pin Scale 5000B amplia in modo significativo la memoria disponibile per i vettori di test, offrendo una capacità di archiviazione vasta e scalabile in linea con le esigenze del settore. Le funzionalità hardware e software consentono un utilizzo ottimale della memoria nelle architetture basate sui chiplet, riducendo il consumo complessivo delle risorse e i costi associati per i clienti, affrontando al contempo i requisiti di memoria futuri. La nuova scheda permette inoltre ai clienti di scalare in modo efficiente i programmi di test e le configurazioni hardware esistenti in risposta all’evoluzione dei requisiti dei dispositivi.

La soluzione è progettata per supportare le moderne architetture di scan fabric, consentendo il test simultaneo di più core IP tramite un approccio di streaming. Le nuove capacità hardware permettono di osservare i risultati dei test su più core all’interno di una singola esecuzione del pattern di test, fornendo informazioni immediate sulla distribuzione degli errori tra i core. Queste funzionalità migliorano in modo significativo la copertura strutturale e la visibilità a livello di core, riducendo sensibilmente tempi di test e costo del test.

«Con i dispositivi AI e HPC che spingono sempre più i limiti di scala e integrazione, le soluzioni di test per semiconduttori devono evolversi con la stessa rapidità», ha dichiarato Ralf Stoffels, Executive Officer e Division Manager della V93000 Product Unit di Advantest. «Pin Scale 5000B si basa sulla nostra comprovata scheda Pin Scale 5000 e ne amplia le funzionalità per potenziare ulteriormente la piattaforma V93000 EXA Scale, offrendo le prestazioni e la scalabilità necessarie ai nostri clienti per affrontare la crescente complessità dei dispositivi.»