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Piattaforma per il collaudo automatico dei semiconduttori Advantest V93000 EXAAdvantest ha sviluppato delle metodologie innovative per effettuare scansioni ad alta velocità e test funzionali  basati sul software con la sulla piattaforma di collaudo automatico dei semiconduttori V93000.

Sfruttando le interfacce I/O seriali ad alta velocità disponibili nei circuiti integrati (IC) avanzati, questo nuovo approccio permetterà di confrontare i risultati delle scansioni basate su procedure consolidate con quelli delle nuove procedure, eseguire software per effettuare test più esaustivi sui su chip e ottenere un flusso continuo di dati end-to-end che verrano condivisi con i partner di Advantest nel campo dell’automazione della progettazione elettronica (EDA).

Si tratta di funzionalità sviluppate secondo un’architettura nuova e modulare delle schede, la cui disponibilità è prevista per il prossimo anno. La piattaforma per il collaudo automatico Advantest V93000 potrà gestire in modo rapido ed economicamente efficiente il crescente volume di dati dei test di scan generati dal numero sempre maggiore di gate dei moderni semiconduttori a elevata integrazione.

Le nuove metodologie verranno anche usate per svolgere test funzionali a livello di sistema sulle interazioni complesse tra numerosi core all’interno di dispositivi system-on-chip (SoC), inclusa la comunicazione con host esterni.

Tutto ciò accrescerà ulteriormente la capacità di copertura strutturale dei test e la possibilità di correlare i risultati delle apparecchiature di collaudo automatico dei semiconduttori (ATE) con i test a livello di sistema (SLT).

L’unione di queste innovazioni aiuterà a integrare il collaudo funzionale software-based nel contesto produttivo, dove potenziali difetti possono essere individuati precocemente nei test su wafer e dispositivi integrati.

Juergen Serrer, direttore esecutivo alla guida della Business Unit V93000 di Advantest, ha dichiarato: “Grazie al lavoro svolto con Synopsys e altre aziende del settore EDA, ora offriamo la possibilità di sfruttare i dati dei test dalla progettazione alla fabbricazione per validare dispositivi innovativi e ad alta complessità in tutte le fasi del processo produttivo”.

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