Advantest ha presentato il nuovo sistema T5831 dedicato al collaudo di circuiti integrati di nuova generazione destinato al settore dei terminali e reti mobili, comprese le memorie NAND Flash con interfaccia ad alta velocità ONFi (Open NAND Flash Interface) e Toggle Mode.

Il nuovo tester automatico permette anche di verificare contemporanemente il corretto funzionamento della memoria NAND Flash e DRAM mobile assemblate nello stesso package del circuito integrato.

La struttura del tester T5831 consente di effettuare le prove efficemente in parallelo, con tutte le funzionalità necessarie e a costi contenuti. La versione da laboratorio del tester, il modello T5831 ES, è particolarmente utile per lo sviluppo dei programmi di test e la caratterizzazione dei dispositivi, riducendo in tempo richiesto per giungere alla commercializzazione del prodotto.

Il sistema di collaudo automatico è caratterizzato da funzionalità fondamentali per ridurre al minimo i tempi di test per le memorie NAND Flash. L'architettura Tester-Per-Site che contraddistingue questo tester consente di ottente un'alta produttività, mentre l'elevata corrente di alimentazione disponibile per il dispositivo in prova riduce i tempi di programmazione e di cancellazione.

Inoltre, il tester T5831 dispone di una soluzione hardware in grado di effettuare analisi in tempo reale dei circuiti di elaborazione dei codici di correzione degli errori (ECC) utilizzati nelle memorie, eliminando le attività di post-elaborazione che incrementerebbero altrimenti il tempo di collaudo.

La funzionalità source-synchronous in tempo reale ottimizza i risultati, migliorando il rendimento rispetto ai metodi di post elaborazione tradizionali. Il sistema esegue automaticamente gli adattamenti ciclo per ciclo, compensando le variazioni di temporizzazione correlate alle dispersioni di processo (PVT, Process-Voltage-Temperature) e al jitter, per un perfetto allineamento con il bus dati, con ottimi risultati per effettuare i test ad alta frequenza.

Il sistema di collaudo supporta anche altre funzioni importanti per il collaudo delle memorie, come la gestione dei bad block, l'analisi della ridondanza e la generazione di dati personalizzati o casuali.