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WavePulser 40iXTeledyne LeCroy ha presentato una soluzione unica nel suo genere per il test e la caratterizzazione dettagliata delle interconnessioni elettriche ad altissima velocità.

L'analizzatore di interconnessione ad alta velocità WavePulser 40iX di Teledyne LeCroy è uno strumento particolarmente interessante per tutti i progettisti di hardware digitale ad alta velocità e per i responsabili del collaudo che hanno il compito di caratterizzare e verificare il corretto funzionamenti di interconnessioni e cavi per protocolli seriali ad alta velocità, come PCI Express, HDMI, USB, SAS, SATA, Fibre Channel, InfiniBand, Gigabit Ethernet e Automotive Ethernet.

Ad oggi, i test sulle interconnessioni sono stati tipicamente affrontati con misure separate nel dominio del tempo e nel dominio della frequenza, tramite un riflettometro e un analizzatore di reti.

Con le misure nel dominio del tempo si può controllare l'integrità del segnale utilizzando la riflettometria (TDR) per misurare la risposta al gradino/impulso e generando il profilo d'impedenza del dispositivo in prova. Gli strumenti di misura funzionanti con il principio della TDR permettono di ottenere un'elevata risoluzione spaziale, che consente di localizzare con precisione le anomalie lungo la linea di trasmissione, evidenziate dai cambiamenti nel profilo di impedenza.

Con le misure nel dominio delle frequenza, tipicamente effettuate mediante un analizzatore di reti vettoriale (VNA) ad elevata dinamica, si possono ricavare i parametri S del dispositivo in prova. Tuttavia, gli analizzatori di reti funzionano bene per le prove ad alta frequenza, ma di fatto non sono in grado di caratterizzare le interconnessioni ad alta velocità nello spettro vicino alla continua, rendendo problematico la simulazione degli effetti nel dominio del tempo, quali il il time gating e l'analisi del jitter.

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Pertanto, nessuno delle due tipologie di strumenti di test soddisfa pienamente le esigenze dei progettisti che devono misurare e validare le interconnessioni ad alta velocità. 

Il nuovo analizzatore WavePulser 40iX proposto da Teledyne LeCroy, al contrario, semplifica notevolmente il processo di test e validazione delle interconnessioni ad alta velocità unendo le misure nel dominio del tempo a quelle nel dominio della frequenza.

Caratterizzazione nel dominio del tempo e della frequenza

Lo strumento WavePulser 40iX, infatti, con una singola acquisizione esegue la caratterizzazione completa nel dominio della frequenza misurando i parametri-S come farebbe un analizzatore di reti vettoriale, il profilo d'impedenza come farebbe un riflettometro nel dominio del tempo, oltre ad eseguire altre analisi impossibili da svolgere facilmente con gli strumenti tradizionali.

La procedura di calibrazione risulta molto semplice in quanto è del tutto automatica. L'anlizzatore WavePulser 40iX rivela in dettaglio il percorso del segnale fisico, caratterizzando accuratamente cavi, canale trasmissivo, connettori, vias, backplane, piste di circuiti stampati, chip di vario genere e altro ancora.

Teledyne LeCroy WavePulser40ix

I parametri S così misurati possono anche essere utilizzati per effettuare ulteriori analisi, tra cui il time gating, de-embedding e i valori ottimali per l'equalizzazione al ricevitore. Lo strumento consente di ricavare diagrammi ad occhio, simulare il flusso dei dati seriali e effettuare analisi avanzate sui fenomeni di jitter scomponendolo in tutte le sue componenti.

Come sottolinea Eric Bogatin, Signal Integrity Evangelist di Teledyne LeCroy:

L'analizzatore WavePulser 40iX combina le misure nel dominio del tempo con le misure nel dominio della frequenza in un unico strumento e permette di rilevare eventuali anomalie come connettori mal assemblati, cavi danneggiati meccanicamente o la localizzazione di discontinuità nella linea di trasmissione.
Tali anomalie sono impossibili da rilevare usando i parametri S nel solo dominio della frequenza, perché questi effetti sono dispersi nella risposta in frequenza del dispositivo in prove, mentre lo strumento WavePulser 40iX li identifica e li localizza facilmente con una risoluzione spaziale inferiore a 1 mm.
Misura anche i parametri S (pronto per essere usati in una simulazione) sia in modalità single-ended che mixed-mode, dalla continua fino a 40 GHz. Senza uno strumento come l'analizzatore WavePulser 40iX, potrebbero essere necessari quattro diverse applicazioni software per misurare i parametri S, fare il de-embedding, visualizzare i parametri-S nel dominio di tempo o di frequenza in modalità single-ended o mista e simulare il diagramma ad occhio.