Il nuovo analizzatore di reti vettoriale Tensor VNA di Anritsu introduce un'architettura pensata per rispondere alla crescente complessità delle misure su amplificatori, filtri, convertitori di frequenza e componenti elettro-ottici, con applicazioni che spaziano da aerospazio e difesa ai semiconduttori, fino a integrità del segnale e sistemi a onde millimetriche.

L'elemento architetturale distintivo del Tensor VNA è la configurazione con una sorgente dedicata per ciascuna porta, quindi con quattro sorgenti nel caso di uno strumento a 4 porte.

Questa nuova soluzione architettura consente di eseguire misure multiple nella stessa configurazione, come test su amplificatori e mixer multistadio, garantendo al contempo prestazioni elevate in termini di potenza di uscita e range dinamico.

Disponendo di serie di una sorgente per porta, l'analizzatore Tensor VNA permette di effettuare misure a due toni (IMD test) su amplificatori con un VNA a 2 porte, oppure due misure simultanee a due toni con un VNA a 4 porte. È inoltre disponibile l'opzione di un secondo oscillatore locale (LO), utile per semplificare le misure vettoriali su mixer e convertitori di frequenza, incluse fase e ritardo di gruppo.

Tensor VNA incorpora funzionalità di intelligenza artificiale pensate per assistere l'utente nell'esecuzione di misure complesse, con suggerimenti contestuali e comprensione del linguaggio naturale, nell'ottica di semplificare il flusso di lavoro in laboratorio.

Lo strumento è progettato per velocità di sweep e trasferimento dati elevate, supportate da un'architettura software moderna. Sul fronte della copertura in frequenza,  Tensor VNA può lavorare con frequenze massime da 54 GHz a 220 GHz tramite i moduli mmWave compatti di Anritsu, con la possibilità di eseguire misure "banded" in guida d'onda — compatibili con la maggior parte dei fornitori del settore — per estendere la copertura fino a 1,1 THz.

La piattaforma è scalabile e non richiede test set o hardware aggiuntivi per adattarsi a diverse applicazioni, dalla caratterizzazione di singoli dispositivi alle misure di sistemi multi-porta, fino alle applicazioni a onde millimetriche in guida d'onda e di integrità del segnale ad alta velocità.