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Sistema di analisi e campionamento ottico a onde terahertz Advantest TAS7400TSAdvantest presentato una nuova opzione ad altissima frequenza il suo sistema di analisi e campionamento ottico per la caratterizzazione dei materiali nella banda dei  terahertz: TAS7400TS.

Caratterizzata da un eccellente rapporto qualità/prezzo e facilità di utilizzo, la nuova opzione offre un innovativo metodo di misura per la caratteristica del comportamento ad altissima frequenza di materiali assorbitori di onde radio indispensabili per le tecnologie di comunicazione wireless di prossima generazione Beyond 5G / 6G e per la tecnologia radar a onde millimetriche impiegata nei sistemi ADAS (sistemi avanzati di assistenza alla guida) in campo automobilistico.

Gli analizzatori di reti vettoriali (VNA) hanno sempre trovato largo impiego nella valutazione delle caratteristiche di trasmissione (trasmittanza, riflettanza) e della complessa permittività elettrica di vari materiali nelle regioni delle onde millimetriche e ad altissima frequenza.

Tuttavia, la necessità di valutare tali caratteristiche su larghezze di banda più ampie, emersa negli ultimi anni, ha messo in luce l’inadeguatezza dei VNA in termini di tempo e risorse da destinare alla configurazione e calibrazione dei sistemi di misura in ogni banda di frequenza.

Il sistema di campionamento ottico a onde terahertz di Advantest risponde a questa esigenza consentendo la misura su un’ampia banda di frequenza, ricorrendo alla tecnica delle onde elettromagnetiche pulsate.

Sistema di campionamento ottico a onde terahertz

Un sistema di campionamento ottico compatto (ambiente di misura) consente quindi l’esecuzione delle misure, limitando costi e ingombri. rispetto alle soluzioni tradizionali.

È anche possibile analizzare le caratteristiche della frequenza di superficie con l’opzione di misura per mappatura. Inoltre, la risoluzione di frequenza e la velocità di scansione della nuova opzione sono 5 volte superiori rispetto a quanto possibile con la versione precedente del prodotto, rendendola una soluzione ottimale per la valutazione delle caratteristiche di alta frequenza dei nuovi materiali.

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