Agilent Technologies ha annunciato oggi una novità per il test dell'interfaccia DigRF che offre funzionalità di stimolo e analisi complete a beneficio degli sviluppatori di circuiti integrati a radiofrequenza (RF-IC) e circuiti integrati in banda base (BB-IC) oltre che agli integratori di terminali wireless.

L’interfaccia DigRF V4, promossa dall’associazione MIPI (Mobile Industry Processor Interface) Alliance, è un bus seriale digitale ad alta velocità usato per collegare i chip in banda base con i chip RF e rappresenta una tecnologia fondamentale per le comunicazioni mobili a standard LTE e WiMAX.

I test di tipo “multi dominio” (Cross-domain), come quelli resi possibili dall’intefaccia DigRF V4, consentono di comprendere meglio i dettagli di funzionamento del sistema dal singolo bit digitale sino ai segnali RF con modulazione IQ.

 

La soluzione di test di Agilent consente ai tecnici di lavorare nel dominio (digitale o RF) e al livello di astrazione (livello fisico o protocollo) più consono per caratterizzare velocemente i circuiti integrati a radiofrequenza e risolvere rapidamente i problemi di integrazione multidominio.

 

Il nuovo tester Agilent RDX (Radio Digital Cross-Domain) è costituito da due nuovi moduli: il modulo stimolatore Agilent N5343A e il modulo di analisi N5344A, che sono inseriti in piccole unità base modulari N2X Agilent. La struttura modulare è costruita per adattarsi ai futuri progetti MIMO.

 

Le soluzioni di sonde attive Agilent E5345A ed E5346A con carico capacitativo estremamente basso (meno di 0,15 pF) ed elevata sensibilità permettono di vedere i minimi dettagli  dei segnali senza disturbarli anche alle velocità dell’ordine dei gigabit utilizzate nel test DigRF V4.

 

I progettisti possono scegliere tra la nuova sonda Midbus Agilent N5345A con tecnologia Soft Touch per eseguire rapidi test sui prototipi e le soluzioni di sonde con cavi volanti B5346A, che consentono un semplice monitoraggio dei collegamenti DigRF V4 in progetti caratterizzati da spazi ristretti.