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Modulo analogico Universal Pin Advantest AVI64Advantest ha presentato il nuovo modulo a 64 canali DC Scale AVI64 per la sua piattaforma di collaudo automatico scalabile V93000, che è stato progettato per estenderne le funzionalità al test di circuiti integrati di potenza e analogici nel campo dell'elettronica dei dispositivi intelligenti connessi a Internet per i mercati mobile, automotive e Internet delle cose (IoT).

Grazie alla disponibilità del nuovo modulo universale per pin analogici AVI64, il sistema di collaudo automatico V93000 di Advantest offre tutte le funzionalità necessarie per verificare e caratterizzare i circuiti integrati SoC (System on Chip) più avanzati.

L'elevato livello di integrazione dell'elettronica presente sul modulo consente di eseguire più operazioni di test con un numero inferiore di schede. In questo modo non solo si riduce l'ingombro del sistema, ma se ne migliorano anche l'espandibilità e la flessibilità, semplificando le attrezzature di interfaccia e migliorando l'efficienza dei test eseguiti in parallelo (multi-site)

Grazie alla nuova architettura “Universal Pin” di Advantest, il modo AVI64 contiene per ciascun pin tutte le capacità di test necessarie, ivi compresi un generatore di forme d'onda arbitrario (AWG) e campionatori, misuratori di tempi (TMU) e canali digitali (I/O) ad alta tensione.

Inoltre, il modulo l'AVI64 offre unità flottanti ad alta corrente, misuratori di tensione differenziale, una matrice di switch analogica integrata e la capacità di misurare precisamente parametri di tensione e corrente simultaneamente su ogni pin.

Grazie alla densità elevata di 64 canali per scheda, il modulo offre ampie capacità di esecuzione di test su un ampio ventaglio di circuiti integrati, tra cui semiconduttori analogici di precisione, digitali ad alta tensione, a segnale misto, sensori intelligenti e semiconduttori ad alta corrente.

Tra le principali funzionalità offerte del nuovo modulo per il test di smart device vi è la funzione Domain Sync, che allinea i tempi tra i segnali analogici e digitali nel dispositivo in prova (DUT).

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