Sensor+Test 2024 - Norimberga, 11 - 13 giugno 2024
Si svolgerà in presenza dal 11 al 13 giugno 2024 alla fiera di Norimberga la principale manifestazione europea dedicata ai sensori e alla tecniche di misura. organizzata da AMA,…
La nuova Yield Learning Solution proposta da Verigy si propone di aiutare i produttori di semiconduttori ad accelerare il time-to-market e ad aumentare il rendimento dell'investimento in linee e apparecchiature di produzione.
Si tratta di una una soluzione completa di hardware e software che integra l'acquisizione in tempo reale sui tester con l'analisi statistica di guasti elettrici rilevati su chip complessi.
La Yield Learning Solution di Verigy offre un insieme di moduli di pre-analisi dei guasti sulla piattaforma di test per circuiti SoC (System on Chip) Verigy V93000 ed un set di strumenti di visualizzazione ed analisi focalizzati sulla progettazione del circuito integrato.
Secondo Verigy, l'unione di tali tecnologie consente ai produttori di categorizzare in modo efficace notevoli quantità di malfunzionamenti elettrici traducendoli in guasti logici specifici.
La correlazione dei risultati dei test elettrici con dati del layout fisico del chip permette di localizzare rapidamente i difetti fisici delle cause originarie.
Come spiega Colin Ritchie, Vice Presidente responsabile Marketing DfX Solutions di Verigy:
la Yield Learning Solution di Verigy consente agli operatori di identificare più efficacemente i meccanismi, visibili o no, di perdita di rendimento, accelerando il time-to-production di oltre quattro settimane ed aumentando il rendimento dell'investimento fino al sei percento.
La diagnostica di problemi nella progettazione e produzione di dispositivi nanometrici pone sfide sempre nuove e rende indispensabile chiudere il cerchio tra progettazione, produzione e test.
Aggiunge Ritchie:
La Yield Learning Solution di Verigy collega in modo efficace il test sia al design sia alla produzione, fornendo bitmap logici per guasti sia di tipo stuck-at sia di tipo timing difficili da rilevare, nelle catene e nella logica di scansione. La Yield Learning Solution offre sia l'alta precisione indispensabile in laboratorio sia le prestazioni elevate necessarie in produzione - aspetti critici sia per la presentazione di un prodotto nuovo sia per il monitoraggio della produzione in corso.
A causa dell'investimento straordinario in risorse associate alla progettazione di tecnologie a 45 nm o inferiori, i produttori di semiconduttori hanno oggi bisogno di una soluzione che permetta loro di collaborare con la loro fabbrica, sia interna, sia esterna, per diagnosticare rapidamente i difetti utilizzando informazioni sicure e protette
Conclude Ritchie:
La Yield Learning Solution di Verigy non soltanto facilita quest'efficace collaborazione, ma definisce anche i problemi di progettazione menzionati innanzi, offrendo ai produttori di semiconduttori una capacità unica di rispondere e correggere in tempo reale le escursioni del rendimento, cosa che a sua volta accelera il time-to-market.
La Yield Learning Solution di Verigy è costituita dal tester V93000, dalla soluzione di analisi Triage Fault Locator e dagli strumenti software YieldVision per la rilevazione dei dati di guasto e l'analisi del rendimento.
La struttura scalabile del sistema V93000 consente l'integrazione completa con la Yield Learning Solution sia in sistemi nuovi che in quelli già esistenti.
L'algoritmo proprietario del software di categorizzazione consente di elaborare dati in modo efficace e gli strumenti di analisi e visualizzazione YieldVision riducono necessario alla diagnostica dei problemi localizzando il difetto fisico e la causa fondamentale che crea il guasto. Il risultato è un tempo notevolmente più rapido per la diagnosi e la risoluzione dei problemi.
