Cominciano ad arrivare sul mercato le schede di misura e collaudo modulari progettate per il bus di nuova generazione AXIe, in questo caso con prodotti di fascia alta dedicati al test di semiconduttori.

L'azienda americano Test Evolution, che recentemente aveva presentato la sua prima scheda di sistema per bus AXIe, ora affianca una scheda digitale da 48 pin e una scheda di alimentazione e misura da 12 canali.

Le due nuove schede fanno parte delle serie di sistemi di collaudo modulari Evolution che si rivolgono al mercato della produzione e caratterizzazione di semiconduttori.

Modulo digitale da 48 pin

Il modulo DD48 è una scheda da uno slot AXIe 3.1 che contiene 48 canali digitali da 400 Mb/s (800 Mb/s con multiplazione dei canali. La scheda DD48 supporta tutte le funzionalità definite nello standard AXIe 3.1, tra cui il trigger su pattern per il controllo all'interno dello strumento, il bus PCI Express a 250 MB/s, la calibrazione integrata e la generazione e cattura di forme d'onda digitalizzate.

E' possibile sincronizzare fino a 60 schede di tipo DD48 per eseguire collaudi di tipo multi-site sfruttando il sequenziatore integrato in ciascuna scheda

Sorgente di alimentazione e misura digitale a 12 canali

Il modulo DPS12 è una scheda da uno slot AXIe 3.1 che contiene 12 canali di alimentazione e misura capaci di erogare e/o assorbire corrente funzionando su 4 quadranti (correnti e tensioni positive e negative) misurando al contempo i relativi valori di tensione e corrente.

Oltre a supportare tutte le funzionalità offerte dal bus standard AXIe 3.1, la scheda DPS12 può generare tensioni da +22 V a -12 V ed erogare correnti da 1,2 A (mediante parallelo fino a 2,4 A) fino a 25 μA.

Inoltre, dispone di una funzionalità di generazione di forme d'onda a 16 bit e di un digitalizzatore capace di memorizzare fino a 32 Mcampioni

Le schede DD48 and DPS12 sono compatibili con i pacchetti software di National Instruments LabWindows,  TestStand e IVI e possono facilmente coesistere con altra strumentazione basata su  PXI e LXI all'interno di un sistema di collaudo automatico