Teradyne ha presentato Iris 100, una piattaforma di test ottico progettata per il collaudo in produzione dei dispositivi MicroLED.

Il tester Iris 100 di Teradyne introduce il test ottico a livello di semiconduttore nel processo produttivo dei MicroLED, misurando ogni singolo emettitore di un array e integrandosi direttamente con la piattaforma UltraFLEXplus di Teradyne, per eseguire test ottici ed elettrici combinati.

La tecnologia MicroLED è alla base di due dei settori in più rapida evoluzione dell’elettronica avanzata: i microdisplay per la realtà aumentata (AR) e le interconnessioni ottiche per i data center dedicati all’intelligenza artificiale.

Entrambi richiedono dispositivi contenenti da centinaia di migliaia a milioni di singoli emettitori, ciascuno dei quali deve essere caratterizzato con precisione e produttività a livello industriale. Gli strumenti ottici da banco sono in grado di caratterizzare questi dispositivi in laboratorio, ma non riescono a garantire la produttività e il costo per unità necessari per la produzione su larga scala.

Il tester Iris 100 è stato progettato per facilitare la produzione in grande serie e ad alta precisione.

Tester ottico Teradyne Iris 100 abbinato nella stessa cella di collaudo a un tester elettrico Teradyne UltraFLEXplus

Il sistema di collaudo utilizza uno spettrometro e una telecamera ad alta risoluzione per misurare la risposta spettrale dell’array di microLED, nonché la luminanza e l’uniformità di ogni singolo pixel.

La parallelizzazione avanzata dei test e gli algoritmi di elaborazione delle immagini consentono di caratterizzare un intero array contenente milioni di MicroLED con elevata produttività. Grazie al software IG-XL di Teradyne, ampiamente adottato nel settore del collaudo automatico dei semiconduttori, Iris 100 rileva tempestivamente difetti ottici quali pixel spenti o bloccati e difetti a cluster nelle prime fasi del processo produttivo. Il flusso di calibrazione tracciabile secondo gli standard NIST consente di effettuare misurazioni assolute e di ottenere correlazioni tra lotti, wafer e diversi siti produttivi.

"La tecnologia MicroLED sta passando dalla fase di laboratorio alla produzione su larga scala, sia per i microdisplay AR sia, sempre più, per le interconnessioni ottiche, che stanno diventando fondamentali per consentire ai data center per l’IA di superare i limiti delle connessioni in rame", ha dichiarato Shannon Poulin, presidente della divisione Semiconductor Test di Teradyne. "Entrambe le tecnologie richiedono il test di ogni singolo emettitore con una produttività adeguata alla produzione industriale, e il tester Iris 100 lo rende possibile oggi utilizzando infrastrutture di collaudo che i nostri clienti già impiegano su larga scala".

Teradyne Iris 100 segue il lancio, avvenuto all’inizio di quest’anno, di Teradyne Photon 100 per il test della fotonica su silicio e delle ottiche co-packaged (CPO), nonché l’acquisizione nel 2025 dello specialista nel test fotonico Quantifi Photonics, ampliando le capacità di test di Teradyne all’intero spettro delle nuove esigenze nel campo del test ottico.

Iris 100 supporta sia il test su wafer sia il collaudo finale, consentendo ai produttori di aggiungere il test dei MicroLED alle flotte di sistemi che già utilizzano, con una roadmap che prevede anche il supporto al test dei fotorivelatori nella stessa inserzione della stazione di test nel flusso produttivo