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Tester in-circuit i3070 Series7i E9988GLIl tester in-circuit Keysight i3070 Serie 7i E9988GL nasce per facilitare il collaudo di schede elettroniche complesse ad altissima densità di componenti in un tempo ragionevole.

Equipaggiato con schede pin a quadrupla densità, è in grado di gestire fino a 5760 nodi di test pur in un ingombro ridotto, consentendo ai produttori di soddisfare in modo economico le crescenti richieste di collaudo di PCB che ospitano dispositivi digitali con un elevato numero di pin, proteggendo al contempo gli investimenti esistenti grazie al mantenimento della retrocompatibilità con i programmi di test e con i precedenti modelli E9988E e E9988EL.

Oltre alle schede pin e quadrupla densità, il nuovo tester di Keysight introduce anche alcune importanti novità tecnologiche che potenziano le sue capacità di collaudo, tra cui:

  • Capacità di test di supercondensatori, fino a 100 Farad (F)
  • Esecuzione rapida di misure a bassa corrente fino a 100 nA con tempi di sviluppo ridotti
  • Integrazione dell'analizzatore di test LED e della soluzione di programmazione Flash nelle porte funzionali
  • Miglioramento dell'affidabilità dei test dei cluster di componenti con algoritmi di nuovi e migliorati
  • Test fino al 50% più veloci per i nodi ad alta impedenza con la funzione Enhanced Short Test

L'evoluzione tecnologica ha fatto proliferare l'utilizzo di nodi ad alta impedenza è aumentato, per far fronte alla maggiore richiesta di qualità del segnale, al minor consumo di energia e al miglioramento delle funzionalità. Tuttavia, con l'aumento del numero di nodi ad alta impedenza, anche la durata del test dei cortocircuiti è aumentata, ponendo dei problemi per garantire l'efficienza e la produttività dei collaudi.

Con la nuova funzione Enhanced Shorts Test sviluppata da Keysight si riesce a migliorare l'efficienze dei test dei nodi ad alta impedenza grazie a un nuovo algoritmo di test. L'algoritmo consiste in due fasi: una fase di rilevamento e una fase di isolamento, che nel complesso snelliscono la procedura di test.

Il vantaggio principale risiede nell'efficiente fase di rilevamento dei cortocircuiti per i nodi ad alta impedenza. Sfruttando il metodo del dimezzamento, questa fase riduce significativamente il numero di iterazioni necessarie, riducendo in modo sostanziale il tempo complessivo del test.

Grazie alle schede Quad Density, il tester Keysight i3070 può essere equipaggiato per gestire fino a 5760 nodi di testGrazie alle schede Quad Density, il tester Keysight i3070 può essere equipaggiato per gestire fino a 5760 nodi di testIl collaudo di PCBA ad alta velocità con una moltitudine di pin di test può diventare un'attività estremamente lunga, che spesso richiede l'esecuzione di più cicli per una verifica completa. Per i tester Serie 7i i3070 ora è disponibile una soluzione innovativa, la scheda pin Quad Density (QD), progettata proprio per affrontare il collaudo delle schede più complesse in tempi ragionevoli.

Con ben 320 pin di test su una singola scheda, la scheda QD consente di ottenere un massimo di 2880 pin di test per modulo, raddoppiando di fatto la capacità rispetto alla scheda a doppia densità. Questa innovazione significa che anche le schede a circuito stampato più complesse e grandi possono ora essere sottoposte a test completi in un unico ciclo, riducendo in modo significativo i tempi di collaudo.

Il nuovo algoritmo per il test di cluster di componenti introdotto nel tester i3070 Serie 7i rappresenta un significativo passo avanti nel miglioramento dell'affidabilità del test delle più complesse schede PCBA multistrato, dove non sempre è possibile accedere facilmente ai singoli componenti.

Automatizzando il processo di formazione di cluster affidabili di dispositivi passivi, la funzione cluster test della Serie 7i i3070 elimina l'attività manuale di raggruppamento dei componenti da verificare, riducendo l'intervento umano e i potenziali errori. Il nuovo algoritmo tiene conto della presenza di componenti attivi, garantendo che solo i dispositivi puramente passivi siano inclusi nei cluster.

Questo approccio strategico consente di mantenere l'accuratezza e l'affidabilità delle misure, poiché i componenti attivi sono noti per introdurre variazioni imprevedibili nei valori di impedenza, che possono portare a risultati inaffidabili. La verifica sistematica dei requisiti hardware garantisce che vengano verificati solo cluster di componenti compatibili, mitigando il rischio di misure non valide causate da tipi di dispositivi misti o da connessioni improprie.

Inoltre, tenendo conto delle specifiche capacità hardware del sistema di test, l'algoritmo definisce dinamicamente il tipo di misura da eseguire per ogni cluster, comprendendo resistenze, condensatori o induttori. Di conseguenza, il nuovo test a cluster riduce significativamente la possibilità di falsi positivi e falsi negativo, migliorando l'affidabilità complessiva del test.

Le PCBA possono spesso contenere anche centinaia di LED, la cui verifica è importante quanto la verifica della funzionalità della scheda. Sebbene il test dei LED sia facilmente realizzabile utilizzando un analizzatore di LED dedicato, l'integrazione di questa attività nel processo di collaudo ICT rappresenta una sfida importante.

Per facilitare l'integrazione della verifica dei LED, i nuovi tester i3070 Serie 7i offrono una soluzione semplificata e adattabile per sfruttare un analizzatore di LED di terze parti. Viene fornito con una struttura hardware dedicata che facilita il montaggio di apparecchiature di test di terze parti. Inoltre, il tester i3070 supporta il sequenziatore di test OpenTAP, che consente di generare sequenze di test (TapPlan) per un efficiente verifica dei LED.

I supercondensatori sono una soluzione sempre più diffusa nelle applicazioni legate al settore dell'elettrificazione dei trasporti e la loro capacità continua a crescere.

Per garantire la corretta installazione dei supercondensatori durante l'assemblaggio, il test della Resistenza Serie Equivalente (ESR) deve essere eseguito durante il processo di collaudo ICT subito dopo l'assemblaggio dei componenti.

Tuttavia, la misurazione della ESR durante la fase ICT presenta alcuni rischi e sfide. In primo luogo, la carica residua nel supercondensatore potrebbe danneggiare il tester, rendendo necessario l'uso di circuiti di carico attivo progettati su misura per scaricare completamente il supercondensatore.

In secondo luogo, per gestire in modo efficiente i supercondensatori è necessario utilizzare un metodo di carica, test e scarica rapido e accurato.

Grazie alla perfetta integrazione del carico elettronico DC Keysight N6792A o della SMU a due quadranti N6786A tramite la scheda ASRU della Serie 7i i3070, è ora possibile caricare, verificare e scaricare in modo rapido e semplice supercondensatori da 10 mF a 100 F utilizzando la funzione Supercap integrata. Di conseguenza, il test dei supercondensatori diventa più snello e automatizzato, eliminando la necessità di utilizzare un'elettronica di collaudo personalizzata.

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