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Analizzatore parametrico Keithley 4200A-SCSTektronix ha presentato un analizzatore parametrico integrato e personalizzabile diretto successore di una delle più note famiglie di strumenti commercializzati con il marchio Keithley.

Il nuovo modello Keithley 4200A-SCS è uno strumento potente e versatile destinato ai laboratori di caratterizzazione di semiconduttori e materiali, che grazie a un'interfaccia utente amichevole può venire apprezzato sia dai tecnici più esperti, sia da chi si occupa solo saltuariamente di misure parametriche.

Caratterizzazione semiconduttori con analizzatore parametrico Keithley 4200A-SCSDiretto erede del noto modello 4200-SCS, il nuovo analizzatore 4200A-SCS ha un design e un'interfaccia grafica più moderna, che integra numerose funzioni che facilitano l'uso quotidiano e l'impostazione di misura articolate dedicata al controllo di qualità, alla caratterizzazione e all'analisi dei guasti dei componenti elettrici.

Lo strumento può essere abbinato anche al nuovo modulo di commutazione a quattro canali Keithley 4200A-CVIV, che permette di passare al volo delle misure di caratterizzazione I-V alle misure di caratterizzazione C-V senza per questo dover spostare cablaggi o modificare la attrezzature di prova.

L'ampio schermo ad alta risoluzione dell'analizzatore Keithley 4200A-SCS permette di visualizzare meglio i risultati di prove e le analisi sulle misure effettuate guidando l'utilizzatore nelle operazioni più comuni.

Come per lo strumento della precedente generazione, anche il nuovo analizzatore parametrico 4200A-SCS ha una struttura modulare, composta da un'unità di alimentazione e misura (SMU) dedicata alle misure di caratterizzazione I-V, un modulo di caratterizzazione C-V utilizzabile per le misura di impedenza in alternata e un'unità per misure impulsive veloci, che permette di effettuare caratterizzazioni I-V con stimoli impulsivi catturando forme d'onda e risposte ai transitori.

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