Le nuove sonde optoisolate da 1 GHz per gli oscilloscopi ad alta definizione a 12 bit di Teledyne LeCroy garantiscono la massima precisione nel test dei dispositivi a semiconduttore di tipo Wide Bandgap, come il nitruro di gallio (GaN) e il carburo di silicio (SiC).

Disponibili nelle versione con larghezze di banda di 350 MHz, 700 MHz e 1 GHz, le sonde della famiglia DL-ISO di Teledyne LeCroy permettono di caratterizzare al meglio ogni dispositivo o circuito elettronico di potenza, in particolare quelli con le più elevate velocità di commutazione utilizzati per massimizzare il rendimento energetico.

Per più di trent'anni, i progettisti di sistemi elettronici di potenza hanno comunemente utilizzato come dispositivi di commutazione dei transitor MOSFET o IGBT realizzati in silicio.

Tuttavia, le applicazioni moderne richiedono alimentatori e sistemi di conversione dell'energia sempre più piccoli e leggeri, mentre i legislatori impongono di produrre dispositivi con efficienze sempre più elevate.

I dispositivi elettronici realizzati con materiali semiconduttori ad elevata banda proibita (wide bandgap), come come il nitruro di gallio (GaN) e il carburo di silicio (SiC), hanno velocità di commutazione tipiche superiori di oltre dieci volte rispetto a quelle dei corrispondenti dispositivi in silicio e consentono di ridurre le dimensioni ed il peso dei sistemi di alimentazione e conversione dell'energia, aumentandone l'efficienza.

Molti progettisti, quindi, per la prima volta si trovano a dover progettare commutatori allo stato solido basati su semiconduttori wide bandgap e necessitano di una maggiore larghezza di banda di misura e di capacità di analisi più accurate e dettagliate dei segnali rispetto a quelle attualmente richieste per i dispositivi a semiconduttore basati sul silicio.

La nuova sonda Teledyne LeCroy DL-ISO ad alta tensione ed optoisolata offre ai progettisti sia la massima precisione nelle misurazioni su dispositivi di potenza a semiconduttore GaN e SiC, sia la migliore fedeltà nel rappresentare i segnali.

In particolare le acquisizioni effettuate con la nuova sonda Teledyne LeCroy DL-ISO, se utilizzata con l’oscilloscopio Teledyne LeCroy HDO ad alta definizione con risoluzione a 12 bit, garantiscono sia il più basso livello di overshoot che una precisione pari al 1,5%, quasi il doppio rispetto a quanto possibile con altre soluzioni finora disponibili sul mercato.

La larghezza di banda della sonda è di 1 GHz e soddisfa i requisiti necessari per misurare i tempi di salita di 1 ns possibili con l'utilizzo dispositivi in GaN.

Poiché gli oscilloscopio della famiglia HDO di Teledyne LeCroy sono in grado di campionare i segnali ad una frequenza fino a 20 GS/s con una risoluzione verticale pari a 12 bit, consentono la cattura e la visualizzazione più fedele dei segnali ad alta velocità tipici dei dispositivi GaN e SiC.

Il sistema di test per dispositivi GaN e SiC composto da sonda DL-ISO e oscilloscopio HDO è, quindi, contraddistinto da un’acquisizione con basso overshoot, un’alta precisione di misura, un’elevata larghezza di banda ed un’elevata frequenza di campionamento, una combinazione di caratteristiche che consente di ottenere la più fedele caratterizzazione del dispositivo da verificare.

Inoltre, il nuovo pacchetto software Power-Device disponibile per gli oscilloscopi di Teledyne LeCroy semplifica l'analisi dei dispositivi che utilizzano tecnologia GaN e SiC, poiché misurano automaticamente i diversi parametri, inclusa la perdita di commutazione, in linea con le procedure di test di qualifica JEDEC, ed evidenziano le aree misurate mediante la sovrimpressione di codifiche colorate che ne semplifca l'interpretazione.