Veloci. Precisi. Compatti.Queste sono le caratteristiche distintive dei nuovi oscilloscopi a 4 e 8 canali della famiglia MXO 3. Continua...
Quali sono le caratteristiche chiave di un oscilloscopio che miri a spingere i confini dei test e delle misurazioni in termini di prestazioni e capacità?Continua...
CAN FD Light è un protocollo semplificato pensato per realizzare sistemi elettronici integrati e sensibili ai costi. Continua...
Gli analizzatori di qualità del segnale MP1800A di Anritsu supportano ora anche il più recente standard USB3.1 Gen2 per effettuare i test sui ricevitori.
Il pacchetto composto dalla soluzione USB3.1 Receiver Test Solution con l'adattatore G0373A e il software per la misura si segnali seriali ad alta velocità MX183000A permette di effettuare sia i test di conformità e le prove di tolleranza al jitter sui segnali standard USB 3.1 Gen1 (5 Gbit/s) e Gen2 (10 Gbit/s).
Leggi tutto: Test di ricevitori USB3.1 SuperSpeed+ con analizzatore di segnali Anritsu
I multimetri digitali MM 6-1 e l'MM 6-2 di Benning sono due strumenti che permettono di misurare il vero valore efficace (True RMS) dei segnali in corrente alternata in modo accurato anche anche in presenza di segnali non sinusoidali.
I due nuovi multimetri sono stati progettati per sopportare impulsi di tensione secondo quanto previsto dalle normative di sicurezza con classificazione CAT III a 1000 V e CAT IV a 600 V. Si tratta di strumenti molto robusti pensati per l'utilizzo in ambienti gravosi, come fabbriche e impianti industriali.
Advantest ha presentato il suo nuovo tester per semiconduttori T2000 AiR, un sistema di collaudo automatico compatto e raffreddato ad aria ottimizzato per il collaudo a basso costo adatto sia ai laboratori di ricerca e sviluppo, sia agli ambienti di produzione a basso volume di prodotti differenziati.
Il tester per semiconduttori T2000 AiR di Advantest offre un'estesa copertura per il collaudo dei diversi moduli e dispositivi System-in-Package (SiP). Grazie all'architettura modulare caratterizzata da estrema flessibilità, il tester permette la configurazione con sei moduli di misura raffreddati ad aria.
Leggi tutto: Sistema di collaudo T2000 AiR System per moduli e dispositivi SiP
Tektronix ha presentato il sistema di collaudo parametrico per semiconduttori di potenza totalmente automatico Keithley S540, che permette di effettuare test parametrici totalmente automatici sui wafer usando 48 pin.
Si tratta di uno strumento ottimizzato per effettuare prove fino a 3 kV su dispositivi di potenza e strutture realizzate con i materiali composti di ultima generazione, tra cui carburo di silicio (SiC) e nitruro di gallio (GaN), oltre che di effettuare le classiche misure ad alta tensione, basse tensione e di capacità su ogni tipo di materiale semiconduttore con un singolo contatto della sonda sul wafer.
Leggi tutto: Sistema di collaudo per semiconduttori di potenza Keithley S540
I misuratori di potenza RF con interfaccia USB serie RTP4000 di Boonton hanno la capacità di misurare la vera potenza media di un segnale ad altissima velocità su una gamma dinamica estesa da -60 dBm a +20 dBm.
Si tratta di strumenti pensati per effettuare misure accurate di potenza qualunque sia il tipo di segnale: a onda continua, a impulsi o modulati. Grazie alla capacità degli strumenti di effettuare 100.000 misurazioni al secondo, è possibile ricavare l'andamento della potenza in tempo reale.
Leggi tutto: Misuratore di potenza RF in tempo reale Boonton RTP4000