Col nuovo firmware introdotte importanti novità, tra cui decodifica NRZ (Not-Return-to-Zero) e analisi di base del jitter. Continua...
Strumenti moderni progettati appositamente per rispondere alle sfide dello sviluppo della moderna elettronica di potenza e dei sistemi embedded. Continua...
Conosci la differenza tra precisione e accuratezza?
“Non c’è mai stato un momento migliore di questo per essere nel settore della misura e collaudo”. Non nasconde il suo ottimismo Siegfried Gross, Vice Presidente e General Manager responsabile di tutte le attività di Keysight legate al settore dell’auto e dell’energia, che abbiamo incontrato in occasione della fiera Electronica.
Il suo entusiasmo non è di facciata, ma è supportato da un’analisi pragmatica delle sfide e delle opportunità offerte dagli enormi cambiamenti avvenuti in così breve tempo nel settore dell’elettronica.
Gli analizzatori di qualità del segnale MP1800A di Anritsu supportano ora anche il più recente standard USB3.1 Gen2 per effettuare i test sui ricevitori.
Il pacchetto composto dalla soluzione USB3.1 Receiver Test Solution con l'adattatore G0373A e il software per la misura si segnali seriali ad alta velocità MX183000A permette di effettuare sia i test di conformità e le prove di tolleranza al jitter sui segnali standard USB 3.1 Gen1 (5 Gbit/s) e Gen2 (10 Gbit/s).
Leggi tutto: Test di ricevitori USB3.1 SuperSpeed+ con analizzatore di segnali Anritsu
I multimetri digitali MM 6-1 e l'MM 6-2 di Benning sono due strumenti che permettono di misurare il vero valore efficace (True RMS) dei segnali in corrente alternata in modo accurato anche anche in presenza di segnali non sinusoidali.
I due nuovi multimetri sono stati progettati per sopportare impulsi di tensione secondo quanto previsto dalle normative di sicurezza con classificazione CAT III a 1000 V e CAT IV a 600 V. Si tratta di strumenti molto robusti pensati per l'utilizzo in ambienti gravosi, come fabbriche e impianti industriali.
Advantest ha presentato il suo nuovo tester per semiconduttori T2000 AiR, un sistema di collaudo automatico compatto e raffreddato ad aria ottimizzato per il collaudo a basso costo adatto sia ai laboratori di ricerca e sviluppo, sia agli ambienti di produzione a basso volume di prodotti differenziati.
Il tester per semiconduttori T2000 AiR di Advantest offre un'estesa copertura per il collaudo dei diversi moduli e dispositivi System-in-Package (SiP). Grazie all'architettura modulare caratterizzata da estrema flessibilità, il tester permette la configurazione con sei moduli di misura raffreddati ad aria.
Leggi tutto: Sistema di collaudo T2000 AiR System per moduli e dispositivi SiP
Tektronix ha presentato il sistema di collaudo parametrico per semiconduttori di potenza totalmente automatico Keithley S540, che permette di effettuare test parametrici totalmente automatici sui wafer usando 48 pin.
Si tratta di uno strumento ottimizzato per effettuare prove fino a 3 kV su dispositivi di potenza e strutture realizzate con i materiali composti di ultima generazione, tra cui carburo di silicio (SiC) e nitruro di gallio (GaN), oltre che di effettuare le classiche misure ad alta tensione, basse tensione e di capacità su ogni tipo di materiale semiconduttore con un singolo contatto della sonda sul wafer.
Leggi tutto: Sistema di collaudo per semiconduttori di potenza Keithley S540
