Emerson ha annunciato due nuove soluzioni per il test a radiofrequenza (RF) utili per la caratterizzazione dei dispositivi più complessi e di applicazioni che sfruttano più canali di ricetrasmissione in parallelo.

Il nuovo modello NI PXIe-5633 è un analizzatore di reti vettoriale (VNA) a quattro porte che, insieme ai miglioramenti software orientati alla sincronizzazione disponibili per il ricetrasmettitore vettoriale NI PXIe-5860 (VST), estende le capacità di validazione RF verso nuove applicazioni MIMO (Multiple Input Multiple Output) e di analisi dei parametri S multiporta, il tutto all'interno della piattaforma NI PXI, scalabile e basata sul software.

Le nuove funzionalità degli strumenti modulari NI consentono di ampliare le capacità di validazione dei sistemi RF con l’analisi di rete vettoriale a quattro porte, per rispondere alla crescente complessità delle architetture dei dispositivi e ai nuovi requisiti di misura. Le funzionalità avanzate di sincronizzazione del ricetrasmettitori NI PXIe-5860 supportano applicazioni RF MIMO, multicanale e sensibili alla precisione tipicamente richieste nei sistemi wireless di nuova generazione.

"I test RF non si limitano più alla validazione di singoli componenti considerati isolatamente. Con l’evoluzione dei sistemi wireless, sempre più distribuiti, definiti dal software e basati su architetture con un numero elevato di antenne, i progettisti hanno bisogno di architetture di test capaci di evolvere con la stessa rapidità delle tecnologie da validare", ha dichiarato Kevin Schultz, Chief Technology Officer di NI nell’ambito dell’attività Test & Measurement di Emerson. "Queste funzionalità testimoniano il nostro impegno nell’aiutare tecnici e progettisti a realizzare infrastrutture di test flessibili, in grado di supportare la validazione a livello di sistema e le future innovazioni nel settore wireless."

Il modello NI PXIe-5633 amplia le capacità di analisi di rete vettoriale a quattro porte di NI, consentendo di caratterizzare dispositivi RF sempre più complessi. Poiché i sistemi wireless si basano in misura crescente su percorsi RF multipli, radio sincronizzate e architetture distribuite, è necessario analizzare le interazioni dell’intero sistema, anziché valutare i singoli componenti separatamente. 

È possibile caratterizzare i parametri S ed eseguire misure su segnali RF modulati utilizzando un’unica connessione RF. Riunire queste misurazioni in un sistema PXI controllato via software può ridurre la necessità di strumenti e configurazioni di test separati, garantendo al tempo stesso un percorso coerente verso l’automazione.

Le applicazioni spaziano dalla validazione dei semiconduttori alla ricerca wireless avanzata, fino ai sistemi aerospaziali e di difesa e ad altre tecnologie ad alta intensità RF, sempre più spesso basate su architetture multiantenna, multicanale e definite dal software.