Teradyne ha presentato il suo nuovo sistema di collaudo automatico per memorie ad alta velocità di nuova generazione Magnum E2, un tester progettato supportare le tecnologie DRAM e flash più avanzate, tra cui LPDDR6, DDR6, GDDR7 e NAND flash.

Basato sulla collaudata architettura Near-DUT Test (NDT) di Teradyne, che costituisce la base della piattaforma Magnum EPIC, già ampiamente diffusa sul mercato, il tester Magnum E2 supporta sia il collaudo in produzione che le prove necessarie durante lo sviluppo di nuovi dispositivi, coprendo l’intero percorso dalla qualificazione alla produzione ad alto volume su un’unica piattaforma hardware e software.

Con l’AI che accelera il ritmo dell’innovazione nel campo delle memorie, il tester Magnum E2 assicura che le memorie ad alta velocità alla base dei data center per l’AI soddisfino gli standard di prestazioni e affidabilità richiesti per le applicazioni più avanzate dell’intelligenza artificiale. I dispositivi DRAM e flash stanno raggiungendo velocità sempre maggiori e adottano interfacce I/O con più canali e la segnalazione PAM3 per supportare tempi di addestramento più rapidi e una latenza inferiore nella fase di inferenza.

Questa evoluzione richiede un tester con un maggior numero di pin, un parallelismo più elevato e il supporto ai segnali NRZ e PAM3, preservando al contempo l’integrità del segnale: una sfida per la quale il tester Magnum E2 è stato appositamente progettato.

“La memoria all’interno di un acceleratore AI è fondamentale per le prestazioni del sistema tanto quanto il die di elaborazione stesso, e i requisiti di test non sono mai stati così complessi”, ha dichiarato Ben Han, presidente della divisione Memory Test di Teradyne. “Con l’introduzione sul mercato di DRAM avanzate e NAND flash ad alta velocità per gli SSD enterprise, i nostri clienti non possono permettersi una piattaforma di test che li costringa a scegliere tra integrità del segnale e produttività. Il tester Magnum E2 è stato progettato per eliminare questo compromesso e offrire ai principali produttori di memorie una piattaforma che possono qualificare oggi e far evolvere nel tempo, in linea con le esigenze future del mercato”.

Caratteristiche principali del tester Magnun E2

• Maggiore resa produttiva alle alte velocità: gli strumenti digitali sono posizionati vicino al dispositivo in prova (DUT), per preservare l’integrità del segnale e proteggere il margine dei segnali dinamici, che nelle architetture convenzionali tende a ridursi.
• Supporto ai protocolli di nuova generazione: il supporto della segnalazione ad alta velocità NRZ, PAM3 e PAM4, insieme a un’architettura del generatore di pattern flessibile e programmabile su una piattaforma hardware comune, consente di gestire gli standard DRAM e NAND attuali e quelli emergenti senza dover sostituire il tester.
• Test di memoria e logica su un’unica piattaforma: la capacità integrata di test logico supporta la convergenza tra test delle memorie e test della logica, consentendo ai clienti di consolidare le diverse fasi di test e ridurre la complessità complessiva dei programmi di collaudo.

Man mano che l’intelligenza artificiale spinge l’innovazione verso generazioni successive di memorie, dai data center per l’AI fino all’edge, per i produttori di memorie diventa indispensabile poter eseguire test a velocità sempre più elevate, con segnali di interfaccia flessibili, un maggiore livello di parallelismo e un più ampio supporto ai protocolli. Teradyne mette quindi a disposizione una piattaforma come Magnum E2 in grado di affrontare queste sfide già oggi e di supportare l’evoluzione delle tecnologie di memoria nel tempo.