Keithley Instruments ha annunciato il rilascio di una nuova versione del proprio software per il collaudo parametrico di semiconduttori ACS Basic Edition destinato ad applicazioni di misura e collaudo di semiconduttori.

La release 1.2 fissa nuovi livelli in termini di facilità ed efficienza di utilizzo, convenienza e produttività nella caratterizzazione di componenti o dispositivi a semiconduttori discreti.

Tre le novità di rilievo segnaliamo la modalità di funzionamenti Trace Mode, che consente una verifica istantanea dei risultati e permette di controllare in maniera interattiva le scansioni in tensione al fine di prevenire per tempo dannosi fenomeni di breakdown del dispositivo.

Oltre a supportare la vasta gamma di unità di alimentazione e misura (SMU, Source Measure Unit) di Keithley, il software ACS Basic Edtion abbina funzionalità di controllo dell’hardware a elevata velocità, connettività del dispositivo e gestione dei dati in un tool di semplice uso ottimizzato per l’esecuzione di operazioni di verifica di componenti, debug e analisi.

Miglioramenti di produttività

La nuova versione di ACS Basic Edition contiene un vasto catalogo di librerie di test accessibili in modo semplice e in tempi brevi, in modo da evitare la necessità di effettuare qualsiasi tipo di programmazione.

Un’interfaccia utente grafica di immediata comprensione semplifica molto tipologie di collaudo I-V, acquisizione dati e analisi. Anche gli utilizzatori meno esperti possono collaudare e caratterizzare un componente a semiconduttore in pochi secondi, generare una famiglia di curve e confrontarle immediatamente con le relative curve di riferimento.

Sebbene i test preconfigurati permettano di minimizzare il tempo di avviamento, all’utente viene comunque lasciata la possibilità di ottimizzare un test o di personalizzare l’intero sistema di collaudo secondo le sue esigenze specifiche.

La nuova funzionalità Trace Mode di ACS Basic Edition versione 1.2 supporta il collaudo interattivo di un dispositivo. Essa può essere utilizzata per mappare l’intervallo operativo e le caratteristiche di un dispositivo senza correre mai il rischio di danneggiare il dispositivo stesso. Questa modalità interattiva prevede un metodo molto comodo per il controllo dei livelli di tensione di una scansione che può avvenire mediante una barra laterale virtuale o i tasti freccia della tastiera di un personal computer.