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Generatore Tektronix AFG31000 con software Double Pulse TestTektronix ha annunciato la disponibilità di un nuovo plugin software per il suo generatore di funzioni e forme d’onda arbitrarie AFG31000, che permette di effettuare il fondamentale test a doppio impulso sui dispositivi di potenza in un tempo notevolmente inferiore rispetto a quanto richiesto dai metodi alternativi.

Il test a doppio impulso è un metodo fondamentale per valutare le caratteristiche di commutazione dei dispositivi di potenza di nuova generazione in carburo di silicio (SiC) e nitruro di gallio (GaN) ed ora può essere eseguito in meno di un minuto.

Configurazione forma d'onda a doppio impulsoCon il nuovo software Double Pulse Test di Tektronix è possibile definire rapidamente i parametri degli impulsi attraverso una singola schermata visualizzata sull’ampio display touch del generatore AFG31000, per poi generare gli impulsi necessari a effettuare la prova.

Il software applicativo permette di regolare l’impedenza del carico, la durata degli impulsi e il ritardo tra di essi, fino a 30 impulsi. La durata degli impulsi può variare da 20 ns a 150 µs.

“Il nuovo plugin Double Pulse Test è un altro esempio di come il nostro nuovo generatore AFG31000 renda semplice realizzare dei sistemi di collaudo, permettendo di variare rapidamente i parametri di prova ed eseguire svariate procedure di test con grande efficienza e stabilità,” afferma Chris Bohn, vice president e general manager responsabile della linea di prodotti Keithley di Tektronix. “Questa novità offre un enorme aumento di produttività a tutti i tecnici che si occupano di elettronica di potenza, che si traduce in una significativa riduzione dei costi e in un notevole miglioramento del time-to-market.”

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Il test a doppio impulso viene utilizzato dai ricercatori e dai progettisti che si occupano di semiconduttori ed elettronica di potenza per misurare e confrontare le caratteristiche di commutazione e il comportamento dinamico dei dispositivi, compresi quelli più recenti realizzati con materiali semiconduttori ad elevata banda proibita (wide bandgap), come il carburo di silicio (SiC) e il nitruro di gallio (GaN).

Per effettuare il test a doppio impulso è necessario generare con grande precisione almeno due impulsi di tensione con durate variabili per innescare la conduzione dei dispositivi di potenza, quali MOSFET e IGBT.

Banco di misura con generatore Tektronix AFG31000 per test a doppio impulso

Le misure vengono eseguite tramite un oscilloscopio, come quelli delle famiglia Tektronix 5 Series MSO. Tuttavia, la generazione di questi impulsi è sempre stata spessp problematica utilizzando la strumentazione classica, obbligando tecnici e progettisti a creare manualmente le forme d’onda adatte tramite un PC un microcontrollore, un metodo lento e soggetto a frequenti errori.

Presentato per la prima volta lo scorso anno, lo strumento AFG31000 ha introdotto diverse novità assulute sul mercato, tra cui il più grande touchscreen per questa tipologia di strumenti, un’interfaccia utente completamente nuova e la tecnologia brevettata InstaView, che permette di rilevare automaticamente e compensare i disadattamenti di impedenza.

Grazie alla sue flessibilità, può essere facilmente adattato via software a svolgere compiti specifici, come dimostra il plug-in dedicato al test a doppio impulso.

I clienti di Tektronix possono scaricare il software Double Pulse Test per il generatore AFG31000 gratuitamene dal sito web tek.com.

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